比表面积及孔径分析仪

全自动静态容量法比表面积及孔结构测试仪性能参数测试方法及功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布

 北京金埃谱科技有限公司是北京市高新技术类产品研发及生产企业，也是国内比表面及孔径分析仪器行业最具影响力的集科研、生产、销售为一体的仪器生产企业。公司起源和服务于中国兵器系统，长期致力于科学分析仪器的研究与发展。
        秉承兵器行业高标准、严要求的技术宗旨，倡导和坚持“技术为先，服务为本”是我们的发展理念，紧随国际仪器技术发展潮流、坚持自动化与智能化相结合是我们的发展方向，创立国内自主研发尖端品牌是我们的发展目标，为我国科研机构及生产企业提供与国际标准和品质接轨的，具有高精度、高可靠性及高性价比的一流科研设备是我们的服务宗旨。
        金埃谱科技是国内率先推出集完全自动化、智能化、高精度、高稳定性及高性价比于一体的比表面及孔径分析设备供应商，相继推出的F-Sorb X400（动态法）及V-Sorb X800 Series（静态法）两大系列产品，不仅完全遵循国家标准及国际标准，而且创建了国内最为齐全、完善的比表面及孔径分析仪产品线，可满足不同层次用户的需求。公司拥有国内众多著名科研院校及世界500强企业的成功应用案例，2008年、2009年、2010年和2011年连续四年国内市场销售量遥遥领先。
        公司位于我国著名的高校云集、中科院研究院所汇聚的北京高新技术产业区---中关村，依托于地缘优势及背景优势，公司拥有深谙业内需求、了解国际先进技术的跨行业技术专家及研发团队，为金埃谱公司进一步领跑于比表面及孔径分析仪行业奠定了坚实的基础。
        公司已通过ISO9001质量管理体系认证，拥有严格的产品质量保证和完善的售后服务体系，高品质的仪器、全面的售前咨询、优质售后的服务，是您选择金埃谱科技的动力之源。

全自动静态容量法比表面积及孔结构测试仪性能参数

测试方法及功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布分析孔结构测试,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定;

测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-500nm(孔径);

测量精度:重复性误差小于1.5%;

真空系统:V-Sorb的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布测定孔结构测试的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;

液位控制:V-Sorb的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;

样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;

压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa);

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15％);

分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995;

限真空:4x10－2Pa(3x10－4Torr);

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;

测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr);

数据采集:及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;

数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.
 

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