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导电型号测试仪

北京恒奥德仪器仪表公司

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更新时间：2024-04-22

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产品简介

导电型号测试仪/PN测试仪/硅料PN鉴别仪型号：KDK-STY-3 产品简介 KDK-STY-

公司简介

本公司主营不锈钢采水器，罐底焊缝真空检测盒，八级空气微生物采样器，涂层测厚仪，土壤粉碎机，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，数显式温度计，气体采样泵，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计测振仪，一氧化碳二氧化碳检测仪，黏泥含量测试仪，自动电位滴定仪，便携式测温仪，干簧管测试仪，电导率仪，水质分析仪，土壤氧化还原电位计，数字测温仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，余氯检测仪，颗粒强度测试仪，高斯计，自动涂膜机，，雨量计，四合一气体分析仪，溶解氧仪，薄层铺板器，温度记录仪，动觉方位仪，菌落计数器，雨量计，毛细吸水时间测定仪，污泥比组测试仪，大气采样器，流速仪，体积电阻率测试仪，照度计，涂布机，老化仪

本网站所列参数、图片、价格及说明仅供参考，如有变动，恕不另行通知，请以随货所带说明书为准。恒奥德公司负责保修。同时本声明的一切解释权依法属恒奥德公司。网上型号均为恒奥德公司货号，图片仅供参考,以实物为准!!!!

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产品说明

1.导电型号测试仪/PN测试仪/硅料PN鉴别仪型号：KDK-STY-3

产品简介

KDK-STY-3型导电型号测试仪是严格按照标GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。

本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50‑60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计示型号方向。仪器灵敏度分、低两档，可判别大分非本征半导体材料型号（从阻单晶到重掺单晶）。

二、术性能

1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：

锗：非本征锗10³～10^‑4Ω·cm

硅：10⁺⁴～10^-4Ω·cm

经外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果。

2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制

3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接示，同时中心刻度为零位检流计也在示型号，针向左偏转被测样品为N型，针向右偏转被测样品为P型。

5、探针：用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50‑60℃范围内，冷笔与室温相同。整流法行选用硬质合金作探针。

6、电源及耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，zui大耗（热笔加热状态）小于40W，平均耗≈10W。

7、外型尺寸：370×320×110（mm）

8、重量：约 4 kg

2.多能数字式四探针测试仪/方块电阻检测仪/四探针电阻率仪型号：　JG-ST2258A

概述
JG-ST2258A型多能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
本测试仪特赠设测试结果分类能，zui大分类10类
仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和耐磨碳化钨探针制成，故定位、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。
基本术参数
1. 测量范围、分辨率
电阻： 1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω
电阻率： 10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω-cm
方块电阻： 10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω/□ 分辨率1.0×10-3 ～ 0.1×103 Ω/□
2. 可测半导体材料尺寸
直径：测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
长（或）度：测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程划分及误差等
量程 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0
kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□
误差 ±0.5%FSB±1LSB（在各量程范围内），超量程或欠量程可测量，但误差将随超欠程度而变大

4) 作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5) 外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
净重：≤1kg

3.数字式四探针测试仪/四探针电阻率检测仪/方阻仪型号：JGST-2253

JGST-2253 型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量半导体材料的电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻行测量。
仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等分组成，测试结果由主机数码管直接显示。也可连接PC机由配套软件在PC机上操作，其数据可由软件显示、分析、保存和打印！
主机主要由恒流源，分辨率 ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用宝石导向轴套和耐磨碳化钨探针制成，故定位、游移率小、寿命长。仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别适用于要求快速测量中低电阻率的场合。
三、基本术参数
3.1测量范围
电　阻率： 10-4～105Ω-cm
方块电阻： 10-3～106Ω/□
电　　阻：10-4～105Ω
3.2可测半导体材料尺寸
直径： Φ15～100mm, 长（或）度： ≤400mm
2.3测量方位:
轴向、径向均可
2.4. 4 1/2 位数字电压表：
⑴量程： 200mV
⑵误差：±0.1%读数±2 字
2.5数控恒流源
⑴电流输出：直流电流 0～100mA 连续可调，由交流电源供电。
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
⑶误差：±0.5%读数±2 字
2.6四探针测试探头
⑴探针间距 1mm
(2)探针压力: 0～2kg 可调,zui大压力约 2kg
(3)探针：碳化钨，Φ0.5mm
2.7.电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W
2.8.外形尺寸：
主机 260mm（长）×210 mm（宽）×125mm（）