DL-TH2826A 直销高频LCR数字电桥

高频LCR数字电桥/高频数字电桥  型号：DL-TH2826A

性能特点
■ 台符合LXI标准的LCR表
■ 测试频率20Hz～5MHz，10mHz步进
■ 测试电平10mV～5V, 1mv步进
■ 基本准确度0.1%
■ zui高达200次/s的测量速度
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器,10档分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ 中英文可选操作界面
简要介绍
■TH2826系列元件测试仪是台符合LXI标准的新
一代阻抗测试仪器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz
的频率范围可以满足元件与材料大部分低压参数的测量
要求，可广泛应用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷
电容器、液晶显示器、变容二管、变压器等进行诸多电
气性能的分析及低ESR电容器和高Q电感器的测量。
■TH2826系列产品超高速的测试速度使其特别适用于
自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等
等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家
的不同标准需求。
■TH2826系列产品以其的性能可以实现商业标准和军
用标准如IEC和MIL标准的各种测试。
广泛的测量对象
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、
芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：变容二管的C-VDC特性；晶体管或集成电路
的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻
抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗
角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
TH2826/TH2826A
技术参数
测试参数C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
测试频率
TH2826 20 Hz～5MHz,10mH步进
TH2826A 20 Hz～2MHz,10mH步进
测试信号电
平
f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）
f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)
输出阻抗10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本准确度0.1%
显示范围
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
C 0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S
D 0.0001 ～ 9.9999
Q 0.0001 ～ 99999
θ -179.99°～ 179.99°
测量速度快速: 200次/s（f﹥30KHz）,100次/s（f﹥1KHz）
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校准功能开路 / 短路点频、全频清零，负载校准
等效方式串联方式, 并联方式
量程方式自动, 保持
显示方式直读, Δ, Δ%
触发方式内部, 手动, 外部, 总线
内部直流偏
置源
电压模式
-5V ～ +5V,
±(10%+10mV), 1mV步进
电流模式（内
阻为50Ω）
-100mA ～ +100mA,
±(10%+0.2mA),20uA步进
比较器功能10档分选及计数功能
显示器320×240点阵图形LCD显示
存储器可保存20组仪器设定值
接口
USBDEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USBHOST(FAT16 and FAT32 support)
LAN(LXI class C support)
RS232C
HANDLER
GPIB（选件）