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TC-2000 直销植物冠层分析仪

北京京晶科技有限公司
会员指数: 企业认证:       

价格:电议

所在地:北京

型号:TC-2000

更新时间:2018-01-11

浏览次数:901

公司地址:北京市通州区潞城镇武兴路379号

王经理(先生) 经理 

产品简介

植物冠层分析仪/植物光谱仪/冠层分析仪 型号:TC-2000操作原理:任 何物质都具有发射、吸收及反射电磁波的特性,这是光谱信息检测的基本原理。通过测量每一波长辐射的吸收、

公司简介

北京京晶科技有限公司 实力雄厚 技术一流

北京京晶科技有限公司 从事集成、销售、服务为一体的新兴企业,公司将秉承“服务以人为本”的宗旨,产品投放市场依“向质量求生存”为北京京晶科技有限公司实现“深化市场,深入用户”的经营理念为指导原则为您提供完善的供应链保障。优秀的人才队伍,打造专业化服务水准!
具备“产品开发、销售,技术培训,仪器维修一站式集成供应商集。专业致力于气体检测仪器,食品安全检测、农业检测、水质与空气质量安全监测设备、无损检测仪器、实验室分析仪器以及相关试剂、销售和服务,客户分布于石油、建筑、环保、质检、食品、安监、工商、农业、科研教育、工业、商检等各大领域

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产品说明

植物冠层分析仪/植物光谱仪/冠层分析仪  型号:TC-2000

操作原理

任 何物质都具有发射、吸收及反射电磁波的特性,这是光谱信息检测的基本原理。通过测量每一波长辐射的吸收、发送或反射,物质的特性就能被确定。在实际应用 时,仅需要选择某些特定波段来识别被选定物质的特性。利用窄带过滤器来选择可见光和近红外(NIR) 区电磁波谱的某些波段。此波段区域可以用于量化各种胁迫导致的植物冠层发射率差异。750-900纳米的近红外波段对探测和评估植物叶片病害的严重性十分 有用。近红外区的长波波段可以用于估计植物的生物化学成份。
采用可见/近红外光反射光谱技术和多通道光谱信息扫描技术,可快速测定植被表面参数、植物冠层信息、植物养分信息、土壤养分信息、环境参数、植物病虫害程度等。
仪器为8通道通用光谱检测分析仪,zui大可支持16通道不同波段的通用光谱信息采集仪器,用户可以根据实际须要定制不同波段的滤光片进行光谱检测。
仪器自带8个波段的滤光片,主要中心波段为:550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm.
内置传感器自动校正模块。
植物冠层分析仪TC-2000应用范围:
*描述:
-植物正常生长
-植物冠层顔色
-植物生长环境
*评估:
-作物生物量
-生物化学含量
-作物产量组成
-作物质量因子
-叶面积指数
-由于病虫害、空气污染、养分不足和化学植物毒素等造成的作物产量损失与品质降低
*植物生长调节剂的评估
*客观有效地对各种叶片病害的评级
*监测应用除草剂的效果
*用于土壤改善和肥力的研究
*叶面施肥的研究
*灌溉日程安排的研究
*干旱对植物生长和产量的影响
*不同基因型的特性
*试验地变异的评估
植物冠层分析仪TC-2000特点:
辐射计方向360度可调,可以自动校准太阳方向角对测量造成的影响
仪器高矮可调节
能够在少云的情况下使用
8个波段与Lsat卫星热波谱图的前8条波段相似
重量轻、便于携带
可以用于无人值守的操作
大屏幕中文液晶显示
手持机可存储,通过按键存储
带计算机接口,可以将数据导入计算机,以便分析之用
技术指标
现在已定标的有:
A归一化植被指数NDVI、SA-NDVI,WDR-NDVI,RVI
B、光化学反射系数PRI
C、叶面积指数(LAI)
D、冠层林隙比例(GAP SIZE)
E、植物冠层吸收的光合有效辐射分量(FPAR)
波段:8个
中心波长:  550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm 
操作范围:0到+50℃,0到相对湿度不凝结,<20%的相对湿度下贮藏
反射率区间:0到
分辨率:0.06%
度:+/-4%
检波器:发光二管
尺寸:100×100×80mm
存储数据:1000组
响应时间:2秒
重量:1kg
植物冠层分析仪配置:
该系统包括辐射计、数据记录器(手持表)、伸长杆 (可伸长到3.5米)、 AC适配器及充电器、软件光盘、数据连接线、使用手册
植物冠层分析仪操作方法:
在 田间,通过支持架(杆)将辐射计保持在作物冠层上面的水平位置。田间的观测直径是反射计高于冠层的高度的一半。系统内置的数据获取程序便于对电压数字化和 记录每一选择波长的反射百分数。该程序同时允许对多个样本取平均值。各种辅助数据,如时间、入射辐射水平和辐射计内部的温度,均可在每次扫描时记录下来。
通过手动开关或按手持机触发的一次扫描只需约2秒钟。各种操作过程均有屏幕提示。
辐射计设计允许几乎同时输入代表入射辐射和反射辐射的电压值。这一特性允许在非理想的太阳角度和光照条件下测量作物冠层的反射率。在多云条件下,利用系统校准程序进行环境校准,仍然可以获得有用的反射率观测值。

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