TD-ICT-33C 数字IC测试仪

数字IC测试仪/集成电路测试仪 型号：TD-ICT-33C

功能特征


TD-ICT-33C集成电路测试仪:


可测1300种器件.


可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,


器件代换查询,内部RAM数据修改,


EPROM、EEPROM器件读出写入.


功 能 参 数


主要功能


器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。


器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。


器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。


器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。


内部RAM数据修改：ICT?/FONT>33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。


EPROM、EEPROM器件读入：ICT?/FONT>33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。


EPROM、EEPROM器件写入：ICT?/FONT>33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。





可 测 器 件（1300多种）


CMOS40系列：103种。


CMOSMC140系列：103种。


CMOS45系列：60种。


CMOSMC145系列：60种。


光耦合器系列：133种。


TTL74/54系列：714种。


TTL75/55系列：82种。


数码管系列：


0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]；0.7吋共阳[005]；共阴[006]。


常用RAM系列：


2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128


EEPROM系列：


2816 2817 2864 28256 28040 29101


EPROM系列：


2716 2732 2764 27128 27256 27512


微机外围电路系列：


8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC(8O2)


常用单片机系列：


8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752


其他系列：


2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831 8832 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506