DL10-TK3580 抗干扰介质损耗测试仪

介质损耗测试仪是一种的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种缘材料、缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗

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 抗干扰介质损耗测试仪

型号：DL10-TK3580

介质损耗测试仪是一种的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种缘材料、缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容容量（Cx）它淘汰了 QS 高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间（在同类产品中速度快）等特点。体积小、重量轻是我公司的第二代抗干扰介质损耗测试仪。
介质损耗测试仪主要技术指标
      1、环境温度：0 ～ 40℃（液晶屏应避免长时日照）        
      2、相对湿度：30% ～ 70%
      3、供电电源：电压：220V±10%、频率：50±1Hz
      4、外形尺寸：长×宽×高   500mm×300mm×400mm
      5、重量：    约18Kg          
      6、输出功率：0.6KVA
      7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位）
      8、测量范围及输出电压选择：
                介质损耗（tgδ）：±0.00～±999%
                试品电容容量（Cx）和加载电压：

 

   2.5KV档:≤300nF（300000pF）            3KV档:≤200nF（200000pF）
                 5KV档:≤76nF（76000pF）                7.5KV档:≤34nF（34000pF）
                 10KV档:≤20nF（20000pF）
      9、基本测量误差：
                介质损耗（tgδ）：1%±7个字（加载电流20uA～500mA）
                介质损耗（tgδ）：2%±9个字（加载电流5uA～20uA）
                电容容量（Cx）：1.5%±1.5pF

 

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