RHA-CJ-JX2000A/B 显微图像分析仪

主要性能：光学显微镜放大成像，专业级摄像头，高速高分辨率图像采集卡，图像动态快速显示于电脑，直接观察粉体颗粒的形貌，专用软件进行粒度分析。全平场消色差物镜，zui大分辨率0.07微米，zui大光学放大倍数1600倍，图像显示和打印zui大倍数4000倍(A4幅面)。

测量范围： 0.5μm～2000μm

测量方法： 透射：将样品置于载玻片上，运行专用软件，由电脑分析处理，计算数据。
反射：将样品置于物镜下方，运行专用软件，由电脑分析处理，计算数据。

分析软件：提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积等分布数据。同时提供D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等数据，配有多种图像分析和处理功能，可以满足各种图像处理需要。

图像分析处理：
1.色调处理：负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整；
2.图像矫正：水平镜像、垂直镜像、90度（逆时针)、90度(顺时针) 、旋转、放大、缩小、任意比例缩放等；
3.测量单位：微米、毫米、厘米、英吋任选；
4.图像增强：对比度均衡、膨胀、腐蚀等；
5.图像处理：图像锐化，边缘平滑，二值化，边界滤波，分析目标擦除、孔洞填充，手工擦除，手工连接，粒子属性查看、设置标尺、网格等功能；
6.分析参数：
（1）几何参数：每个颗粒的质心 X、Y 坐标位置，像素；
（2）当量几何参数：等面积圆直径，等周长圆直径，长径，短径，长径比；
（3）外接几何参数：每个颗粒的外接圆直径；
（4）光密度参数：图像 R、G、B、灰度分布；
（5）形态学参数：长径比，圆度系数；

测量结果：颗粒形貌可存盘打印，还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业特殊要求，设计磨料、
硅灰石等专用软件。