TT230 涡流测厚仪|氧化膜测厚仪

TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量；可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，

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TT230涂层测厚仪

涡流测厚仪|氧化膜测厚仪


涂层测厚仪产品介绍
TT230涂层测厚仪概述

TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量；可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

TT230涂层测厚仪符合以下标准：

GB/T 4957-1985 涡流方法
JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪
TT230涂层测厚仪功能特点

采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
设有五个统计量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
具有米、英制转换功能
具有打印功能，可打印测量值、统计值
具有欠压指示功能
操作过程有蜂鸣声提示
具有错误提示功能
具有自动关机功能
涂层测厚仪技术参数

测头类型：N
测量原理：电涡流
测量范围： 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力：1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式：一体化
示值误差：
一点校准(um)：±[3%H+1.5]
两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
测量条件：
zui小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10
基体zui小面积的直径(mm)：ф5
zui小临界厚度(mm)：0.3
温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
统计功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置：无
存储能力：15个测量值
打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑
关机方式：自动
电源：二节3.6V镍镉电池
外形尺寸：150×55.5×23mm
重量：150g
涂层测厚仪基本配置

TT230涂层测厚仪主机
铝基体
标准片一套
充电器
使用说明书
TT230涂层测厚仪可选附件

TA230打印机
 
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