YI-6000B 数字IC测试仪

YI-6000B数字IC测试仪是一款台式数字IC测试仪。可测试1800多种常见的TTL和CMOS器件，真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。

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YI-6000B数字IC测试仪

数字IC测试仪 特点
循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
测量1800种设备
支持54/74系列TTL
支持4000和5000系列CMOS
测试管脚：28 pin


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YI-6000B是一款台式数字IC测试仪。可测试1800多种常见的TTL和CMOS器件，真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。 
数字IC测试仪 

测试范围
	54/74 系列 TTL
	4000 及 4500 系列 CMOS
	DRIVE
量测种类
	约 1800 种
测试电压
	2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
	高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
	交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
	335(宽) x 105(高) x 300(长) mm 约 1.5 公斤

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