IM3536 LCR测试仪

日本日置-IM3536-LCR测试仪、Hioki-IM3536测量频率DC，4Hz~8MHz● 测量时间：快1ms● 基本精度：±0.05% rdg● 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量● 可内部发生DC偏压测量

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日本日置-IM3536-LCR测试仪
DC，4Hz~8MHz测量频率，今后的标杆产品 ● 测量频率DC，4Hz~8MHz ● 测量时间：快1ms ● 基本精度：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量 ● 可内部发生DC偏压测量 ● 从研发到生产线活跃在各种领域中 基本参数 测量模式 LCR（单一条件下测量），
日本日置-IM3536-LCR测试仪
连续测量（保存条件下连续测量） 测量参数 Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε 测量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定） 显示范围 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
日本日置-IM3536-LCR测试仪
基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ） 测量频率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) 测量信号电平 [V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (zui大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (zui大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (zui大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (zui大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (zui大1 V) [CC模式]的[低Z模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (zui大1 V) [直流电阻测量]: 1 V固定 DC偏压 发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z模式时0 ~1 V) 输出阻抗 通常模式：100 Ω, 低Z模式: 10 Ω 显示 彩色TFT5.7英寸，触摸屏 功能 比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 接口 EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA  
IM3536-LCR测试仪               
体积及重量 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg 附件 电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1 探头·治具 SMD测试治具IM9100 直接连接型，底部有电SMD用，DC～8MHz，可测量样品尺寸：0402～1005（JIS） 4端子开尔文夹9140-10 DC~200kH，50 Ω，1 m长 测试治具9261-10 线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm 测试治具9262 DC～8 MHz, 直接连接型 SMD测试治具9263 直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm



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