EN-GWZD 西安厂家直供高温阻断试验台

该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC标准试验要求。可供半导体器件配以适当的温度可控装置， 作交流阻断（或反偏）耐久性/ 筛选试验。能满足IGBT进行高温反 偏耐久性试验、高温漏电流测试（HTIR）和老炼筛选。

西安易恩电气坐落于西安渭北工业装备区，是陕西省政府重点支持的高新技术企业。公司专注于研发、生产和销售半导体封装、测试设备。现已成为国内电力电子行业知名的测试方案供应商。公司以自主研发生产的“轨道机车半导体测试系统”系列产品为主导，在此基础上相继推出全自动IGBT参数测试系统、功率器件图示系统、集成电路测试系统等系列产品。广泛应用于科研院所、能源、电力电子、交通、船舶制造、军工、高校等诸多领域。
完善的基础设施和人才队伍一直是企业强化建设的重点。公司设有测试实验室，调试中心，产品研发中心，服务团队等多个技研服务部门，以满足不同客户对测试解决方案的多层次需求。公司研发人员占总人数的40%，硕士学历以上人员占75%，专业技术人员占比超过66%，成员大多来自航天、航空、半导体及微电子相关研究院所及电力电子行业内的资深人士。公司通过了质量体系ISO9000认证及陕西省软件企业认定，承担国家科技部创新基金项目等，目前获得发明4项，实用新型15项，软件著作权3项。

西安厂家直供高温阻断试验台

系统概述

交流阻断（或反偏）耐久性试验是在一定温度下，对半导体器件施加阻断（或反偏）电压，按照规定的时间，从而对器件进行质量检验和耐久性评估的一种主要试验方法。        

一般情况下，此项试验是对器件在结温（Tjm ℃）和规定的 交流阻断电压或反向偏置电压的两应力组合下，进行规定时间的 试验，并根据抽样理论和失效判定依据，确认是否通过， 同时获取相关试验数据。       

该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC标准试验要求。可供半导体器件配以适当的温度可控装置， 作交流阻断（或反偏）耐久性/ 筛选试验。能满足IGBT进行高温反 偏耐久性试验、高温漏电流测试（HTIR）和老炼筛选。

系统组成

漏电流保护回路

在每一试品试验回路中都配置有0.1A的保险丝，当试品在试验期内发 生劣化或突然击穿或转折，保险丝将熔断，设备面板上的相应工位的 氖灯点亮示警，同时蜂鸣器报警提示。

试验电压保护回路

试验电压由衰减板衰减取样后反馈到控制单元，通过峰保器输出与电 压设定值比较，当试验电压高于电压保护设定值时，过压报警器响， 同时保护继电器动作切断高压输出。

高压回路

由电源开关、控制继电器、自藕调压器、高压变压器、波形变换电路 组成，产生规定的试验电压并通过组合高压线排，接入试品工位。

电特性参数测试回路  

试验电压由电压取样回路，经采集、保持 电路送到设备的数字电压表显示；

试品漏电流对每一试品漏电流采样，通 过设备上的波段开关分别进行转 换，传送到数字电流表显示。

技术指标

试验电压	VDRM.VRRM/VRRM   300V ~ 4000V 连续可调， 50HZ工频
试验电流	IDRM.IRRM/IRRM   1.0 mA ~200.0mA
试验温度	室温～150℃；温度均匀性125℃±3℃； 温度波动度±0.5℃
试验工位	10工位
试验容量	80×16=1280位
加电方式	器件试验参数从器件库中导入，ATTM自动加电试验 方式，可单通道操作；老化电源可根据设定试验电压 和上电时间程控步进加载

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