XRS-ZK-I 半导体中空玻璃露点仪

一、 用途

露点仪是根据中华人民共和国国定标准GB/T11944-2002《中空玻璃》设计研制的中空玻璃专用的检测仪器。使用于中空玻璃、真空玻璃及密封玻璃制品的露点检测。广泛用于玻璃深加工企业的质量控制和各级质量监督检测部门。

二、 仪器结构与工作原理

本仪器由低温测试头和制冷机组组成，通过测试头和被检测样品的紧密接触，使样品表面局部冷却，当达到一定温度后，内部水气在冷点部分结露或结霜。露点仪主要检测样品在某一温度下是否结露或结霜。

三、 规格及主要技术参数

1、低温测试头表面直径：50mm。

2、测温范围：-60-0℃ 准确度：0.5%

3、工作电压：220伏

4、使用环境：温度0-50℃

四、设备清单

1．制冷主机 1套

2．低温测试头 1个

3．真空吸盘 1个

4．产品合格证 1份

5．产品说明书 1份