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所在地:北京
型号:DG-MiniTest 400
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更新时间:2019-09-29
浏览次数:1054
公司地址:北京市海淀区西三环北路87号14层1-1401-238
北京恒奥德科技有限公司总部位于北京,是一家致力于自动化仪器仪表产品研发、生产、销售和工程服务的专业公司!以自主研发生产自动化仪器仪表和代理国外知名品牌为经营方式!
在企业发展过程中,公司秉承“水利万物而长流,公司利万众而永存”的经营理念,坚持“客户是一”的经营原则,来为客户提供优质的服务!公司产品以的技术、的质量。合理的价格,完善的售前售后服务,使得每一位客户满意!我公司产品主要涉及石油、化工、环保、电子、冶金、机械、光学、通讯、科研及大专院校、医疗卫生等众多个领域,其中主营产品有:粉尘测定仪,日照计,表观密度测定仪,流速计,水质分析仪,负压式采样器,位置传感器,空气压缩机,电阻测试仪,喊话器,生物显微镜,苏生器,超声波清洗机,马弗炉,石油产品粘度计,太阳能电池演示器,测力环,滤膜,试纸,休止角测定仪,红外加热板,紫外线检测仪等。
我们坚信 良好的信誉,合理的价格以及卓越的产品质量是取悦于每一位客户的战术,同时这也正是我们企业的生存希望!我们也期盼着社会各界人士能对我们的产品提出宝贵的建议。
我们的宗旨:为客户提供能够创造高效益的服务!
详情请登录:www.hengaodebj.com
项目
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参数
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400
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400A
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400B
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显示信息
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测量值,声速值,探头型号,电池电量,当前数据组
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测量范围
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回波-回波测量:3mm-25mm
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发射-回波测量:0.65mm-400mm(不同型号探头决定不同测量范围)
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示值度
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小于99.99mm时为0.01mm;大于100mm时为0.1mm
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单位
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公制/英制
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声速范围
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1000m/s - 9999m/s,
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增益
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自动
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手动
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声速测量
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确定未知声速材料的声速,预置9种常用材料声速值
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探头识别
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自动识别探头
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零位校准
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开机自动零位校准
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测量模式
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发射-回波模式
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标准测量:满足常用的检测要求
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zui小值测量:满足曲面或需要选择zui小值的测量环境
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差分测量:显示实际测量值与设定标准值的差值
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平均测量:提供2-9点的测量平均值
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上下限测量:限报警
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回波-回波模式
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透过涂层测量基体厚度
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快速扫查模式
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适用于高温或需要提高测量速度的测量环境,每秒10次的测量,可以同时显示测量中的zui大值和zui小值
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数据存储
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1组600个数据
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10组5000个数据,动态分配
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数据输出
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USB接口,通过USB接口上传仪器中存储的数据到计算机
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关机选择
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可选择2分钟,5分钟自动关机或选择不自动关机
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外形尺寸
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130 × 73 × 24 mm(L×W×H)
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重量
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约190g
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工作温度
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-20至50摄氏度
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电池
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两节5号电池,电量显示,电量不足报警
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工作时间
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不间断测量不少于80小时
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显示屏
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128×64 背光
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型号
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晶体直径
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频率
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测量范围
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工作温度
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简介
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P4
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4MM
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10.0MHZ
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0.8-20MM
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-12-+60℃
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小管径探头
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P6
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6MM
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7.5MHZ
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0.8-150MM
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-12-+60℃
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主要用于薄壁及小弧面的测量.
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P8
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8MM
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5.0MHZ
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0.8-350MM
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-12-+60℃
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标配探头,主要用于测量表面为平面或者较大弧度的材料。
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P12
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10MM
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5.0MHZ
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1.0-500MM
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-12-+60℃
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测厚探头,主要用于测量厚度100-500MM的物体.
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ECP12
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12MM
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2.5MHZ
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3-50MM
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-12-+75℃
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粗晶探头,主要用于铸铁等粗晶材质的测量.
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PHT12
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12MM
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5.0MHZ
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1.2-350MM
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-12-+350℃
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高温探头,主要用于测量温度小于350℃的材料的测量,注:测量时晶体与被测高温物体的接触时间不得大于5S.
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PHT12
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12MM
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5.0MHZ
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1.2-350MM
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-12-+550℃
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高温探头,主要用于测量温度小于550℃的材料的测量,注:测量时晶体与被测高温物体的接触时间不得大于5S.
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型号
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晶体直径
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频率
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测量范围
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工作温度
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简介
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EP8E
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8MM
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5.0MHZ
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3-25MM(E-E)
0.8-300MM(T-E)
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-12-+60℃
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400B探头,具有透过涂层测量模式
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EP4
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4MM
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10.0MHZ
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0.65-20MM
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-12-+60℃
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小管径探头
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EP6
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6MM
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7.5MHZ
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0.65-50MM
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-12-+60℃
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主要用于薄壁及小弧面的测量.
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EP8
|
8MM
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5.0MHZ
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0.8-350MM
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-12-+60℃
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标配探头,主要用于测量表面为平面或者较大弧度的材料。
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ECP12
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12MM
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2.0MHZ
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2.0-400MM
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-12-+60℃
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粗晶探头,主要用于铸铁等粗晶材质的测量.
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EHP13
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13MM
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5.0MHZ
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3.0-200MM
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-12-+350℃
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高温探头,主要用于测量温度小于350℃的材料的测量,
注:测量时晶体与被测高温物体的接触时间不得大于5S.
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