HQ37-a 工频介电常数及介质损耗测试仪

工频介电常数及介质损耗测试仪主要用于测量高压工业缘材料的介质损失角的正切值及电容量。主要可以测量电容器、互感器、变压器、缘纸、电容器薄膜等各种电工油及各种固体缘材料在工频高压下的介质损耗(tgδ)和电容量( Cx)，其（工频介电常数及介质损耗测试仪）测量线路采用“正接法”即测量对地缘的试品。

几大系列：功能材料电学综合测试系统、绝缘诊断测试系统、高低温介电温谱测试仪、极化装置与电源、高压放大器、PVDV薄膜极化、高低温冷热台、铁电压电热释电测试仪、绝缘材料电学性能综合测试平台、电击穿强度试验仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕测试仪、冲击电压试验仪、储能材料电学测控系统、压电传感器测控系统。

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公称型号
北京华测工频介电常数及介质损耗测试仪

产品简介
1、工频介电常数及介质损耗测试仪主要用于测量高压工业缘材料的介质损失角的正切值及电容量。主要可以测量电容器、互感器、变压器、缘纸、电容器薄膜等各种电工油及各种固体缘材料在工频高压下的介质损耗(tgδ)和电容量( Cx)，其测量线路采用“正接法”即测量对地缘的试品。由于电桥内附有一个2500KV的高压电源及一台高压标准电容器，并将副桥和检流计与高压电桥有机的结合在一起，特别适应测量各类缘油和缘材料的介损(tgδ)及介电常数(ε)。
2、桥体本身带有5kV/100pF标准电容，测量材料介损方便。
3、桥体内附电位跟踪器及指另仪，外围接线及少。
4、桥体采用了多样化的介损测量

参数规格
1、测量范围及误差
在Cn＝100pF    R4＝3183.2(Ω)(即10K/π)时
测量项目 测量范围 测量误差
电容量Cx 40pF－－20000pF ±0.5% Cx±2pF
介质损耗tgδ 0～1 ±1.5％tgδx±1×10-4
在Cn＝100pF    R4＝318.3(Ω)(即1K/π)时
测量项目 测量范围 测量误差
电容量Cx 4pF－－2000pF ±0.5% Cx±2pF
介质损耗tgδ 0～0.1 ±1.5％tgδx±1×10-4
Cx＝R4×Cn/R3
tgδ＝ω?Ｒ４?Ｃ４
高压电源技术特性
电压输出：0～2500V/50Hz
高压电流输出：0～20mA
内置标准电容器
电容量的名义值为100pF
tgδ小于5×10-5

固体缘材料测试电
本电适用于固体电工缘材料如缘漆、树脂和胶、浸渍纤制品、层压制品、云母及其制品、塑料、电缆料、薄膜复合制品、陶瓷和 玻璃等的相对介电系数（ε）与介质损耗角正切值（tgδ）的测试。本电主要用于频率在工频50Hz下测量试品的相对介电系数（ε）和介质损耗角正切值（tgδ）。本电的设计主要是参照国标GB1409-2006。
本电采用的是三电式结构，能有效的消除表面漏电流的影响，使测量电下的电场趋于均匀电场。
主要技术指标
高低压电之间距离：0～14mm可调
测量直径：￠38±0.1mm
高压电直径：￠56±0.1mm
测量与保护环间隙为1±0.05
空tgδ：≤5×10-5
测试电压：2kV
实验频率：50/60Hz
常温或耐受温度200℃(数字百分表不能加温）
带数字百分表测量范围为0~12mm
制作技术指标依据GB/T1303.2－－-2009
注：原材料为不锈钢与聚四氟乙烯，接口为与电桥配套用专用插座（带专用插头）。

产品

1、主要用于测量高压工业缘材料的介质损失角的正切值及电容量。主要可以测量电容器、互感器、变压器、缘纸、电容器薄膜等各种电工油及各种固体缘材料在工频高压下的介质损耗(tgδ)和电容量( Cx)，其测量线路采用“正接法”即测量对地缘的试品。由于电桥内附有一个2500KV的高压电源及一台高压标准电容器，并将副桥和检流计与高压电桥有机的结合在一起，特别适应测量各类缘油和缘材料的介损(tgδ)及介电常数(ε)。
2、桥体本身带有5kV/100pF标准电容，测量材料介损更为方便。
3、桥体内附电位跟踪器及指另仪，外围接线及少。
4、桥体采用了多样化的介损测量

影响介电性能的因素

下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。

1）频率

因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的ε和taδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。

电容率和介质损耗因数的变化是由于介质化和电导而产生，重要的变化是性分子引起的偶子化和材料的不均匀性导致的界面化所引起的。

2）温度

损耗指数在一个频率下可以出现一个至大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数至大值位置。

3）湿度

化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的。

注：湿度的显著影响常常发生在1MHZ以下及微波频率范围内。

4）电场强度

存在界面化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数至大值的大小和位置也随此而变。

在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。

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