HGTZ-800 高温四探针测试仪

高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。

几大系列：功能材料电学综合测试系统、绝缘诊断测试系统、高低温介电温谱测试仪、极化装置与电源、高压放大器、PVDV薄膜极化、高低温冷热台、铁电压电热释电测试仪、绝缘材料电学性能综合测试平台、电击穿强度试验仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕测试仪、冲击电压试验仪、储能材料电学测控系统、压电传感器测控系统。

我们深信未来是一个加智慧的世界，华测公司与合作伙伴一起，努力研发加高效的检测系统以工业自动化设备，推动中国新材料时代发展的进程，推动世界的进步，并坚信世界因我们而不同。

高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电 流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导 率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高度,也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。

高温四探针测试仪系列采用开发的电子护系统，设备的安全性；选用热电偶保定温度的采集有效值、采用的的SPWM 电子升压技

术，电压输出稳定性好。配备电压、电流传感器以保证试验数据的有效性。

系統搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电 流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。高度的输出与测量规格，保障检测结果的品质，适用于新材料数据的检测。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料，也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。针探针测试仪做了多项安全设计，测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制：当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。

产品应用 应用领域：

多晶硅材料

█         石墨烯材料

█         石墨功能材料

█         半导体材料

█         导电功能薄膜材料

█         锗类功能材料

█         导电玻璃（ito）材料

█         柔性透明导电薄膜

█         其它导电材料等

系统功能：

█ 电压、电流、温度实时显示

█ 自动升压功能

█ 循环自动测试

█ 升温速度可控

█ 自动试验报表

█ 过压、过流、超温报警

█ 软件自动升级

█ 试验电压、电流可调

█ 电方便更换

█ 在线设备诊断

系统特点： 多功能真空加热炉，一体炉膛设计、可实现、高温、真空、气氛环境下进行测试

█           采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度，

█           可以测量半导体薄膜材、薄片材料的方块电阻、电阻率；

█           可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T、R-t等测量功能;

█          进口温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更；

█          仪器可自动计算试样的电阻率pv;

█          10寸触摸屏设计，一体化设计机械结构，稳定、可靠；

█          程控电子升压技术，纹波低、

99氧化铝陶瓷缘、碳化钨探针；

huace pro 强大的控制分析软件。

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