S200型 薄膜材料IV扫描测试用源表S200型

薄膜材料IV扫描测试用源表S200型在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能，这些测试功能，令S型触摸屏数字源表具有I-V特性测试系统、曲线追踪仪和半导体分析仪的各种测试能力，而成本更低廉。

武汉普赛斯仪表自主研发的台式数字源表、插卡式源表、窄脉冲电流源、VCSEL测试系统等，填补国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺，为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合，帮助用户构建自定解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台，以及相关技术服务，满足行业对测试效率、测试精度，以及低成本的挑战。

武汉普赛斯将以服务客户为中心，追求可持续发展，精益求精，坚持不懈，努力将自身打造成行业标杆。

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武汉普赛斯电子技术有限公司是一家高科技企业，专业研究和开发光通信器件产线监测和测试方案和自动化测试设备。产品覆盖CHIP、BAR、TO、OSA等器件、光收发模块、BOB等生产线。客户包括：华为、海思、中兴、光迅、海信、正源光子、旭创等，公司旨在为光电器件生产企业提供服务，针对产线生产的痛点问题，模拟现实应用环境，进行半导体光器件性能指标生产监测和测试，实现产品生产过程实时可监控、可追溯。具有综合性、完备性、稳定性、半自动化或自动化等特点，从而提高用户产线产品的生产效率、可靠性、稳定性、一致性。

 

测试测量仪器的用户除了电气工程师，出现越来越多非电子工程专业的技术人员，如电化学家、物理学家、材料科学家等，这些用户都需要快速得到测量数据，但缺少电气测量方面的基础和知识。另外，年轻的用户群体更倾向于使用便捷的操作界面和软件系统。为适应这些市场需求，S型数字源表全触屏方便操作的特性，使用户更快速地获得测试结果。

薄膜材料IV扫描测试用源表S200型使用直观的触摸屏控制和图标化操作界面，令新用户通过简单操作快速获取测试结果，大大缩减学习仪器操作的时间，显著提高工作效率，同时将更多时间用于科研领域的发明和创新。

S型数字源表在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能，这些测试功能，令S型触摸屏数字源表具有I-V特性测试系统、曲线追踪仪和半导体分析仪的各种测试能力，而成本更低廉。

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  S型数字源表的特性有助于加快和简化实验室/工作台的测试工作：

  · 全彩5英寸触摸屏用户界面：全彩显示屏和大屏幕字符易于读取。简洁的图标化菜单结构只需轻轻一触即可快速设置。

  · 拓展的测量范围和出色的低电流测量能力：低电流 (100pA) 和低电压 (300mV)测试范围拓展了低电平测试能力。后面板上拓展的三同轴连接端口不需要昂贵的电缆适配器就能确保低电平测量的准确性。

  · 内置快速帮助功能：帮助信息出现在有操作疑问的任何地方，勿需查阅厚重的使用手册。

  · 错误和事件日志记录：错误消息和事件日志，帮助用户快速诊断错误，提高工作效率。

  · S系列软件，兼容2400和2450，对使用2400和2450搭建的已有测试系统，可以实现替换，而无需修改测试系统软件。

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