PLX8500 DR探测器的分类有哪些？

DR技术的进步一直都是与平板探测器技术的发展紧密相连的。平板探测器是D​R的核心部件之一，它可以X线能量转换成电信号，对成像质量起着决定性的作用。

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  DR技术的进步一直都是与平板探测器技术的发展紧密相连的。平板探测器是DR的核心部件之一，它可以X线能量转换成电信siyuekvpw号，对成像质量起着决定性的作用。
  平板技术发展主要体现在：动态反应时间和尺寸的大小、像素间距、MTF、DQE等方面。根据探测器的工作原理和组成材料的不同，DR探测器的分类主要有三种：CCD、一线扫描和非晶体平板。
  DR探测器的分类如下：
  CCD：
  因为存在着一定的ht tp:/ /w ww.pl999.co m/c lass.p hp?anc lss=1&nc lass=4物理局限性，普遍认为CCD并不能够胜任大面积平板的采像工作，而且CCD设备在所采集的图像的质量上与非晶硅/硒平板设备差上一段距离。不过因为CCD的价格，在范围内仍然有厂家在使用着这种技术。
  一线扫描：
  一线扫描也被称作一维线扫描技术，这项技术是由俄罗斯科学院核物理研究所发明出来的，目前我国生产该DR探测器的非常少。这项产品虽然设备造价和受照剂量方面都比平板技术要低很多，但是这项技术有着一些先天性的不足：X射线使用效率低、空间分辨率低、成像时间长、成像质量差以及医生和病体会收到大量辐射。
  非晶平板：
  非晶平板由不同的材料也可以分为两种类别：a-Se非晶硒层和a-Si非晶硅层
  a-Se(非晶硒平板探测器)：这是一种直接探测的技术，在硒涂料层直接探测到X光子然后将其电信号转化成数字信号。目前这种技术应用范围较少，属于非主流X光平板探测器。
  a-Si(非晶硅平板探测器)：这是一种两步数字转换的技术，X光子先变成可见光，然后利用光电探测技术探测到，再将其转化为数字信号。因涂层的技术不同，又可以分为非晶硅+氧化钆平板探测器和非晶硅+碘化铯平板探测器。目前这种技术广泛应用于各大知名厂商中，应用范围非常广。
  以上就是DR探测器的分类。CCD由于物理方面的限制，生产工艺和门槛也比较低，已经开始逐渐被淘汰了；一线扫描也由于自身的缺憾很难作为主流产品；非晶体平板具有的都不是前两者可以比的，所以目前较为成熟的DR探测器就是X光平板探测器。
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