PLD-MPCS2.0 电子半导体图像法颗粒度分析系统

电子半导体图像法颗粒度分析系统为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统，该系统包括光学显微镜、图像测试 CCD 摄像头、三维立体载物平台、图像法颗粒分析系统软件、电脑、打印机等部分组成；为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。

西安市碑林区军计测智控设备研究部成立于2020年，公司一直以来以不断技术创新立足于计量行业市场，拥有一支高素质、高水平、专业化的研发队伍。在国家质检总局和各级计量行政部门的统一规划,指导及国家号召下，专注于开展油液监测设备的检定、校准和检测工作，以及计量技术研发、计量技术规范起草、计量技术咨询以及计量检定、校准人员培训等任务。 检定、校准和检测能力：以客户为中心，可为客户定制特殊要求的产品，力求满足客户的个性化需求。 校准：密度、粘度、冷滤点、馏程、凝点、酸值、水分、冰点、颗粒计数器、不溶性微粒检查仪等。 标物：乳胶球、油中颗粒标准物质、水中颗粒标准物质、密度标准物质、粘度标准物质、冷滤点标准物质、馏程标准物质、凝点标准物质、酸值标准物质、水分标准物质、冰点标准物质等。 研究部面对未来，积极调整产品结构，踏实勤奋、勇于创新，不断提升研发、销售与服务水平，以专业的态度为您提供优质的服务!

电子半导体图像法颗粒度分析系统-优势：

测试软件具有审计追踪、权限管控、电子记录、测试标准、计量验证、报告模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能；

全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数，或按用户设定范围计数，自动显示分析结果，并按照相关标准确定产品等级；

将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物；

软件控制分析过程，手动对焦，手动光强（颗粒清洁度测试必须人为干预进行），自动扫描，自动摄入，自动分析；

专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描；全自动膜片扫描系统，无缝拼接，数字化显微镜分析系统；

R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统；

颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析；

引入3D遥感三维调控技术，快速定位，快速聚焦，体验极速无卡顿测试。

显示器及打印机输出分析结果；

直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点；

避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；

现实NAS、ISO等国际标准方法的认可；

提供行业独有的“OIL17服务星”签约式服务；

电子半导体图像法颗粒度分析系统-应用：

航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、半导体、工程机械、液压系统等领域；

对各类固体粉末、各类液体中的固体颗粒（非连续相测试）。

电子半导体图像法颗粒度分析系统-执行标准：

0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率。

可根据客户要求，植入相应“图像法颗粒度”测试和评判标准。

技术参数：

产品型号：PLD-MPCS2.0

订制要求：各类液体检测要求；

测试范围:  1μm-500μm

放大倍数：40X～l000X倍   

zui大分辨：0.1μm

显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）

重复性误差：< 5%（不包含样品制备因素造成的误差）

数字摄像头(CCD)：500万~1800万像素

分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等

自动分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

软件运行环境：Windows 10

接口方式：RS232或USB方式

精 确 度：<±3% 典型值；

重合精度：10000粒/mL（5%重合误差）；

分 辨 率：>95%

 

 

 

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