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价格:电议
所在地:浙江 宁波市
型号:ATM-3020
更新时间:2021-09-09
浏览次数:783
公司地址:浙江省宁波市北仑区大碶学苑南路203号
贺利春(女士) 销售经理
规格型号: ATM-3020 |
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测量范围(mm) |
外形尺寸(mm) |
主机重量(Kg) |
最大承受重量(Kg) |
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X |
Y |
Z |
L |
W |
H |
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300 |
200 |
200 |
1350 |
800 |
1700 |
280 |
30 |
最大空间运动速度 |
最大空间运动加速度 |
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465mm/s |
870mm/s |
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测量精度 |
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光学一维长度测量误差:EU X/Y(1D)(μm) |
2.0+L/200 MPE符合JJF 1318-2011 |
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光学二维长度测量误差:EU XY(2D)(μm) |
2.0+L/200 MPE符合JJF 1318-2011 |
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二维探测误差:PF2D(μm) |
2.0 MPE符合JJF 1318-2011 |
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影像测头探测误差:PFV2D(μm) |
2.0 MPE符合JJF 1318-2011 |
规格型号: ATM-4030 |
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测量范围(mm) |
外形尺寸(mm) |
主机重量(Kg) |
最大承受重量(Kg) |
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X |
Y |
Z |
L |
W |
H |
||
400 |
300 |
250 |
1600 |
950 |
1900 |
410 |
30 |
最大空间运动速度 |
最大空间运动加速度 |
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465mm/s |
870mm/s |
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测量精度 |
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光学一维长度测量误差:EU X/Y(1D)(μm) |
2.0+L/200 MPE符合JJF 1318-2011 |
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光学二维长度测量误差:EU XY(2D)(μm) |
2.0+L/200 MPE符合JJF 1318-2011 |
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二维探测误差:PF2D(μm) |
2.0 MPE符合JJF 1318-2011 |
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影像测头探测误差:PFV2D(μm) |
2.0 MPE符合JJF 1318-2011 |
序号 |
名称 |
规格及说明 |
1 |
主机及机台 |
机身主体采用高精密天然花岗岩,具有稳定的温度特性和抗时效变形能力 |
2 |
控制系统 |
AR3网络板,网络接口主板及伺服电机以及驱动做了全方面升级,Z轴带刹车系统,保证机器的平稳安全,定位更准 |
3 |
Easson测量软件系统 |
自动版光学视觉量测软件 |
4 |
相机 |
130万数字高清网络相机 |
5 |
光栅尺 |
0.01μm绝对光栅 |
6 |
导轨 |
三个轴采用精密级滚珠丝杆导轨,速度有大提升,而且运作平稳 |
7 |
电机 |
直流伺服电机 |
8 |
镜头 |
怡信Easson自主设计TC精密多段定倍自动变倍自动变焦远心镜头(标配同轴光)实际倍率:30-145× |
9 |
照明系统 |
5环8区LED冷光源各段独立操控,256级亮度可调 |
10 |
品牌电脑 |
WIN7/WIN10 |
23.8高清 |
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11 |
操作方式 |
摇控手柄、鼠标拖运、程序检测 |
1. 全电脑程式控制光源。上光源为四相灯,下光源为直光源,增加机器适应性能;并具有光度指示功能,指导用户,减少人为带来的不确定因素。
2.量测工件无需调节摆正,软件提供座标平移、旋转、摆正。
3.标注功能可让用户直接在影像及几何区标注/移动尺寸。
4.几何区点、线、圆/圆弧及直线端点、中点,圆心、象限点自动捕捉。
5.可调节CCD参数设定,提高自适应力;去除毛边功能,以正确取得量测数据。
6.利用影像工具快速自动抓取基本几何轮廓边界点,直接拟合成线、圆、弧。
7. 量测区工件放大摄像图形化输出,转成(.bmp、.jpg)。
8. 测量数据化输出,转成WOR
9.操作方便的自学习教导式编程软件,程序可重复执行
10.SPC功能,直接输出管制图,转成EXCEL
11.机械图形直接输出.dxf格式,与AutoCAD、Pro/e等其它软件无缝联接。
12.程式可直接输入.DXF文件,在影像测量区实现工件实物放大影像与标准设计图作直观的测量比对。
13.提供平面内直线度、圆度、角度分析,进行有效之品质检验
14.机台精度补偿,提高量测精度。
15. ATM-4030T型全自动影像测量仪的软件具学习功能,用户只须以手动方式将工件测量一次,整个测量过程便会记录下来,作为以后重复自动测量之用。用户不需编写任何程式,操作过程绝对简单容易.
16.重新测量功能:该功能可对已测量过的元素,重新改变测量方法,灯光,倍率等,然后会刷新测量数据,并且与其相关的元素数据也会刷新(如:两线构造距离,如果其中一条线重新测量了,那么距离元素数据也会重新刷新)。
17.修改编辑及查看寻边状况:软件可以修改编辑任何测量元素的寻边范围,光源亮度,倍率等。还可以查看之前测量的某个元素的寻边状况(包括寻边的位置,所用的光源亮度,倍率及所采的原始点等),以便用户掌控测量的全过程的状况.