GDS-80H 晶振测试仪

晶体阻抗计（晶振测试仪）是一种专业的晶振测试设备，主要测试无源晶振相应的电参数。采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量，采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容，它测量精度高，速度快。具有串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因

2005年创立于深圳，是我国zui早、zui具实力的石英钟表测试仪、时钟测试仪、晶振测试仪、晶体阻抗计、秒表检定仪、时间检定仪生产供应商之一，多年来致力于多种电子测量仪器的研发、生产与销售，拥有自主知识产权的核心技术。历经多年成长，公司已相继开发出多款时钟测试仪、晶振测试仪、晶体阻抗计，频率范围从32K到100M之 间任意频点都可预定，结合各电子工厂生产线环境的不同，不断优化仪器抗干扰性能和探测灵敏度。以适应不同电子产品对时钟测量的要求。现销往全国三十多个市及海外多个国家。按国网要求我国电能表时钟精度必须满足日误差不超过0.02秒 ,现我司推出的GDS-5B电能表时钟测试仪日误差到0.001秒完全符合国网标准 ，仪器附带上位机软件，连接电脑统计数据修正时钟误差，所有仪器出厂都经过钕钟源频标校准，按客户要求可出国家计量证书，我司资深技术人员长期为企业研发 工程师提供时钟产品技术支持，帮助工程师解决研发过程中遇到的难题，欢迎来电咨询。

晶振测试仪GDS-80H是一种专业的晶振测试设备，主要测试无源晶振相应的电参数。采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量，采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容，它测量精度高，速度快。具有串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q、静电容C0、频率牵引力Ts等参数测量功能，负载电容在1-100P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能网络分析技术运算克服了市场上晶振测试设备使用实体电容法测试精度差，无法测试电参数的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。

将晶体从PCB上拆下，用万用表R×10k挡测量引脚两端，好的晶体应为无穷大。但这样也只能测量晶体的绝缘电阻，仅此而已。事实上，晶体的绝缘电阻大于500MOhm，这个级别的绝缘万用表也是测量不了的。真要想测量绝缘电阻，需要用到绝缘电阻测试仪。
搭一个振荡电路，用频率计和示波器测量。这已经是业余条件下，最好的选择了。但也只能判断晶体能够起振及简单的判断起振幅度。更多的石英晶体谐振器的特性和参数仍然测量不到。而且由于振荡槽路上的误差及激励电平不能准确的设定，还是没有办法判断晶体的准确谐振频率值。

工作原理

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晶振测试仪GDS-80系列采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量，采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容，它测量精度高，速度快。具有串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q、静电容C0、频率牵引力Ts等参数测量功能。

晶振测试仪功能配置

自动测试功能；

超值报警功能

上位机软件通信功能

尺寸参数

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250*280*150mm

产品特点

 播报

1. 中心频率范围： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意设定

2. 扫描范围：±1000ppm（默认±400ppm）

3. 负载电容：1-100P 任意设定

4. 串联谐振频率Fs测量范围：±1000ppm（默认±400ppm） 测量精度：±5ppm

5. 串联谐振电阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）

6. 负载电容CL测量范围：1-200PF

7. 时基误差：±1ppm

8. 负载谐振频率FL测量精度：±5ppm+时基误差+0.5Pf*频率牵引力Ts

注意事项

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1.设备需要定期进行PI网络校准

2.设备需要定期进行频率校准

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