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桂林电子科技大学咨询采购JKZC-YDZK03A压电阻抗综合测试系统一套
发布时间:2022-07-15浏览次数:977返回列表
桂林电子科技大学咨询采购JKZC-YDZK03A压电阻抗综合测试系统一套
近日,桂林电子科技大学咨询采购JKZC-YDZK03A压电阻抗综合测试系统一套,是一款多用途的综合测试系统,即可用于纵向压电D33测试,竖向D15,横向D31等性能测试,也可以用于用于用于铁电晶体、压电陶瓷、压电晶体、超声波换能器等器件的阻抗分析与测试,是对压电器件和设备进行频率扫描和阻抗测量分析的超值解决方案,可以快捷方便地测试压电器件的各项参数特性,正反谐振阻抗及压电材料的电容等相关系数,是研究压电材料和阻抗分析的综合设备,是科研的重要辅助设备。
二、主要技术参数:
频率:10HZ-30MHZ
测试电平:AC: AC电压:5mV - 2Vrms ,分辨率:1mV, DC:±40V,分辨率:1mV
测试参数:Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc
显微镜:630万像素,偏光观察模式
薄膜平台:30*30MM样品台,探针连接
×1挡:10到2000pC/N,20 至4000pC/N,可以升级到10000PC/N.
×0.1挡: 1到200pC/N,2 至400pC/N。
可以配套PZT-JH10/4/8/12型压电极化装置使用
可以配套ZJ-D33-YP15压电压片机使用
误差:×1挡:±2%±1个数字,当d33在100到4000pC/N;
计量标定标准样尺寸:18mm*0.8mm,老化时间:2-3年(评判压电测试仪准确性能的重要依据之一)
提供压电薄膜标准片:20*20MM
电压保护:独有的放电保护功能
±5%±1个数字,当d33在10到200pC/N;
×0.1挡:±2%±1个数字,(当d33在10到200pC/N)
±5%±1个数字,当d33在10到20pC/N。
分辨率: ×1挡:1 pC/N;×0.1挡:0.1 pC/N。
尺寸:施力装置:Φ110×140mm;仪器本体:240×200×80mm。