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产品详情
产品简介
特制之手握式探笔2 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤3 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏...
产品详细介绍
半价优惠四探针探头新款
型号:LDX-GSZ-HP-501 |
四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
四探针探头 探头 型号:GSZ-HP-501
四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
◆ 特性及规格: | ||||||||||
|
型号
(Model) |
曲率半径
(Radius) |
压力
(loads) |
探针间距
(spacing) |
探针排列
(Arrangement) |
LDX-GSZ-HP-501
|
0.5mm
|
100g
|
3.8mm
|
直线
|
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