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产品详情

日置3504-60电容测试仪,日置3504-60

产品/服务：日置3504-60电容测试仪,日置3504-60
型号：Hioki 3504-60
品牌：日本日置HIOKI
单价：面议
更新日期：2024-05-07
有效期至：长期有效
浏览次数：2056

产品简介

日置3504-60电容测试仪,日置3504-60：Hioki 3504-60能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断.对应测试线，比较器功能/触发输出功能.3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试....

产品详细介绍

日置3504-60电容测试仪,日置3504-60
Hioki 3504-60能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断.对应测试线，比较器功能/触发输出功能.3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试.

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

● 高速测量2ms
● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

日置3504-60电容测试仪,日置3504-60
基本参数：

测量参数	Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围	C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
基本精度	（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
测量频率	120Hz, 1kHz
测量信号电平	恒压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻	5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
显示	发光二级管（6位表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间	典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能	BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源	AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, zui大110VA
体积及重量	260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件	电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1

日置3504-60电容测试仪,日置3504-60
测试冶具或电缆(选购)

SMD测试治具9699

用于底部有电的SMD DC~120MHz，测试样品尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下

SMD测试治具9677

用于侧面有电的SMD DC~120MHz，测试样品尺寸：3.5mm±0.5mm

SMD测试治具9263

直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm

测试治具9262

DC～8 MHz, 直接连接型

测试治具9261

电缆连接型, DC ～ 5 MHz, 1m长

镊形探头L2001

线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）

4端子测试探头 9140

DC～100kHz, 1m长

打印机

打印机 9442

数码打印

AC适配器9443-02

适用于打印机9442

连接电缆 9444

适用于9442, 线长:1.5 m

记录纸 1196

112mm x 25m, 10卷/盒

PC 通讯器

GP-IB连接线9151-02

2m长

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日置3504-60电容测试仪,日置3504-60

日置3504-60电容测试仪,日置3504-60：Hioki 3504-60能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断.对应测试线，比较器功能/触发输出功能.3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试....

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