仪器介绍

天瑞仪器是专业的X-ray 膜厚仪厂家，Thick8000型X-ray测厚仪是天瑞仪器集多年的经验，研发用于电镀层行业的一款无损测试仪器，仪器可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台，完全达到了自动化，是一款功能强大的仪器，为客户解决了测试难题，在电镀检测中大展身手。

Thick8000型X-ray 膜厚仪
镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：

1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3、库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

 

测量标准

1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2.美国标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

 Thick8000型X-ray 膜厚仪

应用行业

1、 电子半导体行业接插件和触点的厚度测量

2、 印刷线路板行业功能镀层厚度测量

3、 贵金属饰手表行业镀层厚度测量

4、 五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量

参数规格

1．分析元素范围：硫（S）～铀（U）； 
2.同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层；
3.分析含量：一般为2ppm到99.9%；
4.镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）；
5.SDD探测器：分辨率低至135eV；
6.的微孔准直技术：zui小孔径达0.1mm,zui小光斑达0.1mm；
7.样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头； 
8.准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合； 
9.仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um；

 

测试实例

Thick8000在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素，大大提高测试稳定性、降低检测限。