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F30 膜厚测试仪,膜厚仪,薄膜测厚仪

锐峰先科技术有限公司
会员指数: 企业认证:

价格:电议

所在地:北京

型号:F30

更新时间:2014-08-06

浏览次数:1294

公司地址:北京市海淀区厂西门路2号吉友大厦4015室(上海,深圳,成都,西安办事处)

冯先生(先生)  

产品简介

F30透明/半透明膜膜厚测试仪,膜厚仪,薄膜测厚仪(北京,上海,深圳,成都,西安均有办事处提供服务)主要用于测试各种透明半透明的膜厚。产品简

公司简介

北京锐峰先科技术有限公司是一家致力于为中国广大客户提供先进的半导体设备、SMT设备、LCD设备、易耗品、元器件和完善售后服务的供应商。公司代理一些全球著名的相关产品;拥有一批经验丰富的销售和技术服务团队,并在北京,上海,深圳,西安等地,均有办事处为客户提供一系列的产品及技术服务。


公司一贯坚持:

“yi流的产品;yi流的服务;yi流的合作关系”的经营理念;
“顾客满意,共同发展”的经营目标;
“至诚至信,至新至美”的公司精神;
“团队合作,以人为本”的核心价值。

通过长期的不懈努力,我们已与很多重要客户:如一些全球著名半导体芯片制造商像因特尔,三星,富士康,Stataschippac,Bosch,ST,华为,比亚迪等等,以及国内一些重大研究院校等等都建立了长期合作的关系。公司将继续按照市场经济的规则要求,不断地发展和扩大。真诚地希望为广大客户提供更多、更好的服务;与更多的供应厂商建立更为广泛和紧密的合作关系,共同为业界的繁荣与发展作出贡献.

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产品说明

F30透明/半透明膜膜厚测试仪,膜厚仪,薄膜测厚仪(北京,上海,深圳,成都,西安均有办事处提供服务)

主要用于测试各种透明半透明的膜厚。
 
产品简介:
 
*是监测薄膜沉积的有效工具,可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口,实时监控长晶速度,实时测量膜厚、 n 、 k 值以及半导体和绝缘体涂层的均匀性。可加装三个探头,同时测量三个样品,有三种不同波长选择 ( 波长范围从可见光 400nm 至近红外1700nm);
*测量的薄膜厚度范围从 15nm 到 250um;
*测量精度优于1% 。
 
主要特点:
 
*测量精度高,优于 1% ;
*测量速度快,几秒钟内可完成测量;
*整套设备可放置在沉积室外;
*操作简单,使用方便;
*价格便宜
 
应用领域:
 
*分子束外延MBE;
*金属有机物化学气相沉积MOCVD;
*材料研究;
*光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片。
 

本页产品地址:http://www.yi7.com/sell/show-193254.html
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