Nordson YESTECH M1m AOI 自动光学检测设备

Nordson YESTECH M1m AOI自动光学检测设备采用Nordson YESTECH的百万像素技术，配置300万像素的相机和远心光学系统，且占地面积小于1平方米，可高速检测键合线，晶片贴装以及SMT上的各种缺陷。M1m可以在线或离线

北京锐峰先科技术有限公司是一家致力于为中国广大客户提供先进的半导体设备、SMT设备、LCD设备、易耗品、元器件和完善售后服务的供应商。公司代理一些全球著名的相关产品；拥有一批经验丰富的销售和技术服务团队，并在北京，上海，深圳，西安等地，均有办事处为客户提供一系列的产品及技术服务。


公司一贯坚持：

“yi流的产品；yi流的服务；yi流的合作关系”的经营理念；
“顾客满意，共同发展”的经营目标；
“至诚至信，至新至美”的公司精神；
“团队合作，以人为本”的核心价值。

通过长期的不懈努力，我们已与很多重要客户：如一些全球著名半导体芯片制造商像因特尔，三星，富士康，Stataschippac，Bosch，ST，华为，比亚迪等等，以及国内一些重大研究院校等等都建立了长期合作的关系。公司将继续按照市场经济的规则要求，不断地发展和扩大。真诚地希望为广大客户提供更多、更好的服务；与更多的供应厂商建立更为广泛和紧密的合作关系,共同为业界的繁荣与发展作出贡献.

Nordson YESTECH M1m AOI自动光学检测设备(微电子行业)

M1m系列自动光学检测设备采用Nordson YESTECH的百万像素技术，配置300万像素的相机和远心光学系统，且占地面积小于1平方米，可高速检测键合线，晶片贴装以及SMT上的各种缺陷。M1m可以在线或离线使用，以帮助用户提高产品质量，增加产量。

M1m的程序编写快速简单，使用CAD数据导入，一个完整的程序在1小时之内就可以完成。离线编程功能可帮助用户在电脑上进行程序的编写工作，从而不会影响正常的生产。

M1m采用多种图像处理技术和算法来实现以往靠人工显微镜才能完成的一系列检测，大大提高了检测效率和可靠性。实时彩色图像判别技术，相关匹配法技术和基于规则算法技术等的应用可确保整个生产流程自动化的实现。

M1m同时也提供SPC数据采集，缺陷报告输出，缺陷分类，离线修复功能等， 用户还可以保存被测器件的图像。此外，Nordson YESTECH为用户提供终身的软件升级，以确保用户获得新的软件功能。

设备特点:

· 百万像素彩色图像高速检测
· 高放大倍率视图
· 快速的程序设置和设备安装
· 高缺陷覆盖率和低误判率

自动检测应用于:

· 连接线缺失和损伤
· 无连接和连接不良
· 晶片贴装缺陷
· SMT缺陷
· 杂物

性能参数

型号
M1m    配置1个500万像素下视相机

检测能力
检测速度   75-125平方毫米/秒
大基板尺寸  350mm x 250mm x 25mm (XYZ移动)
可检测器件类型   JEDEC, MCMs, Hybrids, FlipChip, BGA, MicroBGA, MEMs, stacked, PoP

可检测缺陷     
连接线: 缺失,损伤,未连接,脱离焊盘,翘起…
晶片: 缺失,错件,性,破裂,污物…
器件: 位置,缺失,错件,性,扭曲,碑立…
焊锡: 开路,缺锡,短路,锡球…

设备

设备电源   110 - 220VAC，50/60 Hz，10A
气压       60–90PSI (0.4-0.6Mpa)，2CFM
设备尺寸   876mm x 1010mm x 1400mm
设备重量   770Kg(1700磅)

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