2012年度北京市电子显微学年会召开

发布日期：2013-01-28 浏览次数 ：1167

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2012年度北京市电子显微学年会召开 2012年12月17日，由北京市电镜学会、北京理化分析测试技术学会主办的“2012年度北京市电子显微学年会”在北京天文馆召开。会议旨在提高北京及周边省市电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。会议主要内容涉及扫描电镜、透射电镜、能谱仪等仪器技术的新进展和应用。200多位来自科研院所、检测机构、生产企业等单位的出席了此次会议。生命科学特别是神经生物学、细胞生物学的发展需要获得生物体大尺度三维结构的信息。季刚在报告中介绍了三种基于扫描电镜技术的自动化数据采集三维重构技术:ATLUM+SEM、Diamond-knife/SBFSEM、FIB/SBFSEM。

　　这三种技术的样品制备技术和后期数据处理相同、均使用扫描电镜背散射电子成像、自动化程度高。其中Diamond-knife/SBFSEM使用费用较高，另外两种技术相对较低。采用ATLUM+SEM技术样品可以保存，另外两种技术不能保存。FIB/SBFSEM技术在材料科学和半导体科学中得到广泛应用。

裘晓辉在报告中主要介绍了扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)的原理和应用情况。扫描隧道显微镜作为一种扫描探针显微术工具，可以定位单个原子，在低温下可以利用探针操纵原子，因此它在纳米科技既是重要的测量工具又是加工工具。原子力显微镜通过利用微小针尖接近样品，这时它将与样品相互作用，扫描样品时，利用传感器检测作用力的变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面结构信息。宋源军在报告中介绍了日本电子开发冷场球差校正电镜的原因、环形名场像ABF分析的特点。另外对环境中振动、声音、空气压力、室温、样品污染等因素对高端电镜使用的影响，日本电子可提供的解决方案做了介绍。

　　2012年度北京市电子显微学年会召开后据介绍，目前在科学技术大学、中科院大连化物所、上海交通大学等多家单位安装了日本电子的球差校正电镜。王庆在报告中主要介绍了FEI公司在细胞生物学和结构生物学领域所提供的三维显微成像技术。据介绍，对于厚度小于100nm的样品可以采用FEI透射电镜断层成像技术；对于厚度在500nm的样品，扫描透射电镜断层成像技术是对其在纳米分辨率水平进行分析的理想工具。扫描透射电镜断层成像技术具有可以进行动态聚焦，对厚样品分析可以获得清晰的图像等优点。此外对于厚度在微米级的样品分析FEI也可以相应的解决方案。童艳丽在报告中介绍了徕卡全新设计的EM ACE系列镀膜仪。镀膜是重要的电镜样品制备技术，通过镀膜可以降低电子束对样品的损伤；降低电子束的入射深度，获得更浅表层的信息；降低电荷效应，提高SE和BSE对样品的损伤；通过获得重金属覆膜和碳膜复型，间接地观察敏感的生物样品的结构。影响镀膜效果的因素主要包括真空度、靶材、膜厚度等几个方面。

　　能谱仪(EDS)、电子背散射衍射系统(EBSD)技术进展

　　能谱仪(EDS)其特点是在不影响扫描电镜分辨率的前提下，可用于材料表面微区区域(几个微米)的成分分析，度高，分析速度快，操作简单。因此能谱仪在扫描电镜上的应用为广泛，已成为大多数用户在选购扫描电镜时必不可少的功能附件。另外EDS还可以与EPMA、TEM组合进行微区分析。电子背散射衍射系统(EBSD)是扫描电镜的一种新兴附件，可以用作单晶体的物相分析，如晶体取向、晶粒组织等。

在报告中，AMETEK雷运涛博士介绍了EDAX基于Octane SDD的新一代能谱仪、基于Hikari XP的新一代EBSD系统和智能微观分析平台TEAM Pegasus。

　　2012年度北京市电子显微学年会召开Octane SDD探头信号处理效率优于3倍面积的传统探测器，可实现高计数率下高质量能谱分析、低束流条件下高速能谱分析、分辨率优于121eV；Hikari XP高速高灵敏EBSD相机使用户不再需要在高速应用或者高灵敏应用之间进行选择，因为Hikari XP能同时胜任这两种应用；TEAM Pegasus软件平台可实现与EDS完全集成无缝的EBSD表征，动态显示EDS与EBSD面分布，实时在线数据分析。牛津仪器孟丽君介绍了牛津仪器的新产品X-Max^NSDD能谱仪，探测面积达150mm²，是当今面积zui大的电制冷能谱，可用作纳米级材料分析，适用于SEM和TEM。据介绍采用大面积能谱仪可实现低束流下产生足够多的计数，相同束流下显著提高计数率，小束斑下获得高的空间分辨率。此外，孟丽君还介绍了牛津仪器的Nordlys Max2 EBSD系统、Nordlys Nano EBSD系统，并针对它们的高灵敏性和高分析速度进行了分析介绍。