GCDZ3320A 差热分析仪

　　　　　　　　　　　　　DTA差热分析仪（氧化诱导期分析仪）一、功能和用途：　　　　DTA：差热分析是在程序控制温度下，测量

成立至今已经和国内多家知名教育机构，全国各地多家企业有过长期的合作关系，专注于新型材料试验机的研究，长期聘请清华大学精密仪器系的专家为技术顾问，并成立新型材料检测仪器研发中心。是对推动国内材料检测技术的提高和试验方法创新的重要技术保证力量。冠测公司同时还与中科院自动化研究所、国防科技大学等全国数十所科研院所开展紧密合作，并为中国国防军工企业及航天科技企业和重点实验室定制生产了大量标准和非标准的专用测试仪器。
始终以 “以人为本、科技创新、严格管理、诚信发展”为企业发展战略思想。 公司致力于试验仪器、仪器仪表、橡胶塑料常用仪器、薄膜检测仪器、电压击穿试验仪、海绵泡沫检测仪器、绝缘材料试验机、静电专业测量仪器、电热毯类检测仪器、气敏分析检测仪器、安防专业检测仪器、工程力学试验机等前沿技术的研究与应用开发，公司以强大的研发团队为强大后盾，集聚国内外一流人才，以先进的技术、科学的管理、全方位的服务，为客户提供完善的自动化解决方案和技术支持服务。

　　　　　　　　　　　　　DTA差热分析仪（氧化诱导期分析仪）
一、功能和用途：
　　　　DTA：差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

三、仪器配置 ：
1. GCDZ 差热分析仪 一台
2.气体流量计 、 气体转换装置 一台
3.电源线 一根
4.数据线 两根
5.实验软件光盘 一张
6.样品勺 一只
7.镊子 一只
8.气路皮管（安装到位）
9.陶瓷坩锅、铝坩埚 200只
10. 合格证、保修卡、说明书 各一份
11.品牌电脑 一台
12.打印机 一台

二、技术指标：
DTA GCDZ3320A
温度范围 室温~1150℃
量程范围 0～±2000μV
DTA精度 ±0.1μV
升温速率 1～60℃/min
温度分辨率 0.1℃
温度准确度 ±0.1℃
温度重复性 ±0.1℃

温度控制 升温：程序控制 可根据需要进行参数的调整
降温：风冷 程序控制 可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等
恒温：程序控制 恒温时间任意设定
炉体结构 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作
气氛控制 气体流量计，气氛转换装置
数据接口 RS-232串口通讯 配套数据线和操作软件
主机显示 汉字大屏液晶显示 蓝底白字
参数标准 配有标准物：用户可自行对温度进行校正
基线调整 ：用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
工作电源 AC 220V 50Hz
符合标准： GB/T17391-1998

注明：请贵公司需要配置：氮气瓶、氧气瓶以及配套的减压表

：王彦
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