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WBLH-200J WBLH-200J高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计日本

北京中慧天诚科技公司

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所在地：北京

型号：WBLH-200J

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更新时间：2018-04-17

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产品简介

高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计日本型号：WBLH-200J 货号：ZH6917

公司简介

中慧天诚是一家集仪器表供应，技术服务，售后为一体的仪器仪表供应商。

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产品说明

高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计日本
型号：WBLH-200J

货号：ZH6917

产品简介
本仪器采用了涡流测厚方法，可的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
测定方法:高频涡流式
测定对象:非磁性金属上缘层
测定范围:电磁式：0～800um或0～32.0mils
测定精度:<50um±1um >50um±2%
分辨率:<100um 0.1um >100um 1um
界限设定:可设定上/下限数值
测试单位:公/英制互换
显示方式:LCD数显
操作面板:密封水按键
附属品:铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
电源:DV3V 主机5#碱性电池×6个打印机5#碱性电池×4个
体积:80(W)×80(D)×30(H)
重量:1100g
www.ghitest.com
www.centrwin.com

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