nanoTA2具有以下：

 能够以低于30nm的空间分辨率对试样成像分析（接触或间歇接触模式）。帮助你研究你感兴趣区域的热性能。

 可以用探针将直径小于100nm的区域加热到400℃，以便研究玻璃化转变温度或熔点等热学性能。

 局部加热速率可达600,000℃/min，从而消除热漂移问题，防止试样受热处理影响。

 采用热成像以减少局部加热对表面特定区域的影响

 能够以小于0.1℃的分辨率对整个试样的温度进行扫描成像。

nano-TA/HT-AFM 技术参数：

检测模式：单/双探针（SW可供选择）
Ramp模式：电压，功率（单），电阻（单），delta power（双）
成像模式：接触模式，间断接触模式（由SPM控制）
升温速率：zui高可达600,000°C / min
探针的zui高可控温度：400℃（由探针控制）
探针弹簧系数：0.1N/m~5N/m
探针共振频率：20~80kHz
针顶圆角半径：10~30nm
针顶高度：3~6μm
悬臂长度：200~350μm