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价格:电议
所在地:北京
型号:DP-2263
手机:18210605334
电话:86-010-51298264/51294858/微信:13021964782
更新时间:2024-05-06
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公司地址:北京市门头沟区双峪环岛东南角熙旺中心(东方巴黎时代广场)B座2137室
北京亚欧德鹏科技有限公司是一家集研、生产、销、服务于一体的企业。在国内设有多个办事处。
北京亚欧德鹏科技有限公司是产品系统集成商。引进在线、离线仪器仪表、机械设备与材料,为用户提供了产品和服务,在冶金煤矿、石油、化工、环保、电子、机械、光学、通讯、科研及院校等领域,与多厂家有合作关系。目前我公司与许多仪器仪表厂商定有代理协议。
双电测数字式四探针测试仪概述
DP-2263型双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,行两次电测量,对数据行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提度,别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入;具有零位、满度自校功能;测试功能可自动/手动方式;仪器操作可由配套软件在PC机上操作成,也可脱PC机由四探针仪器面板上操作成。测试结果数据由主机数码管直接显示,也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印!
探头选配:根据不同材料性需要,探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
测试台选配:般四探针法测试电阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型测试台。
仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、测量简便、结构紧凑、使用方便等点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试,别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
三、基本参数
3.1 测量范围
电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm 方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
电 阻:1×10-5~2×105 Ω ,分辨率:1×10-6~1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)
直 径:DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限
DP-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.
长()度:测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
3.3. 4-1/2 位数字电压表:
(1)量程: 20.00mV~2000mV
(2)误差:±0.1%读数±2 字
3.4 数控恒流源
(1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A
(2)误差:±0.1%读数±2 字
3.5 四探针探头(选配其或加配全部)
(1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调
(2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可调
3.6 电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<20W
3.7 外形尺寸:
主机 220mm(长)×245 mm(宽)×100mm()