HCJD-800 高温介电温谱测试系统 高温介电测试 高温真空测量

高温介电温谱测试系统 高温介电测试 高温真空测量,可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。

几大系列：功能材料电学综合测试系统、绝缘诊断测试系统、高低温介电温谱测试仪、极化装置与电源、高压放大器、PVDV薄膜极化、高低温冷热台、铁电压电热释电测试仪、绝缘材料电学性能综合测试平台、电击穿强度试验仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕测试仪、冲击电压试验仪、储能材料电学测控系统、压电传感器测控系统。

我们深信未来是一个加智慧的世界，华测公司与合作伙伴一起，努力研发加高效的检测系统以工业自动化设备，推动中国新材料时代发展的进程，推动世界的进步，并坚信世界因我们而不同。

高温介电测试

高温真空测量

高温气氛测量

高温烧结/退火

常温介电测量

高温介电温谱测试系统运用三电极法设计原理测量。并参考美国 A.S.T.M 标准。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的准确度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。

搭配Labview系统开发的Huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。

目前电网中大量使用变频器等高频、高功率设备，将对电网造成谐波干扰。从而在高频、弱信号测量过程中影响弱信号的采集，华测仪器公司推出的抗干扰模块以及采用新的参数分析技术,实现了高达120MHz的高频测量,从而满足了很多半导体,功能材料和纳米器件的测试需求

华测系列阻抗分析仪是华测仪器电子事业部采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的新的高度。解决同类仪器，在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。得益于先进的自动平衡电桥技术，在10Hz-50MHz的频率范围可以保证0.05%的基本精度。 快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。

仪器优势：

1、它可以匀速、阶梯（升\降温）、循环冲击，真空、气氛等多种的加热方式。

2、采用全新的移相触发技术，完全可实现控制精度波动±0.25°c 以内，温控精度更高。

3、加热速度更快、更快，同时它可以提供了材料的更多的测试环境。

设备优势

1、高速加热与冷却方式

高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。

2、温度高精度控制

近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用，可以准确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外，冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。

3、不同环境下的加热与冷却

加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体 静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。

更强的扩展能力，实现一机多用

█ 多功能真空加热 炉，可实现高温、真空、气氛环境下电学测试

█ 采用铂金材料作为测量导线、以减少信号衰减、提高测试精度

█ 设备配置水冷装置，降温速度更快、效率更高

█ 可实现介电温谱、介电频谱等测量功能

█ 进口温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更精准

█ 近红外加热，样品受热更均匀，不存在感应电流，达到精准测量

█ 10寸进口触摸屏设计，一体化设计机械结构，更加稳定、可靠

█ 采用进口高频测试线，抗干扰能力更强，采集精度更高

█ 99氧化铝陶瓷绝缘，配和铂金电极夹具

█ huace pro 强大的控制分析软件与功能测试平台系统相互兼容

设备测量参数

温度范围： RT-800 (最高1650)°C

样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

控温精度：±0.25°C

电极材料：铂金

升温斜率：10°C/min（可设定）

夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷

测试频率 : 10Hz~120MHz

绝缘材料：99氧化铝陶瓷

加热方式：近红外加热

测试功能：介电温谱、频谱

冷却方式：水冷

数据传输：4个USB接口

输入电压：110~220V

设备尺寸：600x500x350mm

ε介电常数、（ε'、ε''介电常数实部与虚部）、C电容、(C’、C''电容实部与虚部、D损耗、R电阻、(R'、R''电阻实部与虚部）、Z、（Z'、Z''阻抗实部与虚部）、

Y导纳、Y’、Y''（导纳实部与虚部）、X电抗、Q品质因数、cole-cole图谱、机电耦合系数Kp、等一系列测量参数及介电温谱与频谱等测试功能。

型号	HCJD-801	HCJD -802	HCJD -803	HCJD -804
温度范围	室温~600℃	室温~800℃	室温~1000℃	室温~1200℃
温度精度	±1℃	±1℃	±1℃	±1℃
测量精度	0.05%	0.05%	0.05%	0.05%
升温速率	10℃	10℃	10℃	10℃
控温方式	PID	PID	PID	PID
频率范围	20HZ-30MHZ	20HZ-30MHZ	20HZ-30MHZ	20HZ-30MHZ
电极材料	铂金	铂金	铂金	铂金
通道数	通道1	通道1	通道1	通道1
测量环境	常温\真空\气氛	常温\真空\气氛	常温\真空\气氛	常温\真空\气氛
通讯方式	USB	USB	USB	USB
设备尺寸	600x400X650mm	600x400X650mm	600x400X650mm	600x400X650mm

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