HA/CIT-3000SM 能量色散X荧光分析仪/X荧光分析仪

• 采用进口的美国AMPTEK航天技术的SI（PIN）半导体探测器系列
• 采用独特数字脉冲采集电路及的电源管理技术
• 采用进口X光管
• 采用专用的X射线高压发生器
• 采用RS232串口通讯
• 采用的系统控制电路和数字处理电路
• 采用专有的分析算法软件模块V2.0A
• 配备品牌电脑
• 配备常用的制样工具
• 配备专用的压片机
• 配备专用的测试样环
• 配备专用的测试硬标样

• 分析元素范围：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；
• 元素含量分析范围：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；
• 采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理技术；
• 测量范围：1－30KeV；
• 管压：0kV-30kV（激发源为 30KV-钨靶微型X射线管）；
• 管流：5μA-200μA；（可减少整机功耗和降低辐射）；
• 整机功率：50W；
• 整机能量分辨率：150±5eV；
• 检测时间： <200S；
• 工作环境温度：温度0-40℃；
• 工作环境相对湿度：≤99%（不结露）；
• 测量物质状态：固体、粉末均可检测，制样简单；
• 一体化设计，性能稳定，运行可靠，高；操作简单，测量时间短；

显微熔点仪/高温热台/高温加热台 型号：RHA-CK-X-4

仪器特点：

热台是采用不锈钢制造，并有隔热保护装置。

温度控制是具有的模糊逻辑控制技术，P．I．D控制技术，数显装置。

热台升温可自行设定，可调，即刻恒温。

测定熔点温度范围：室温—320℃

工作区域：30*30mm，中心孔直径4mm

控制精度：±0.5%

温度显示精度：±1℃

三目正置型金相显微镜/三目金相显微镜 型号:RHA/MM-1

本系统是将精锐的光学显微镜技术、的光电转换技术、的计算机图像处理技术地结合在一起而开发研制成的一项高科技产品。可以在计算机显示器上很方便地观察金相图像，从而对金相图谱进行分析，评级等,对图片进行输出、打印。

一、用途：
透反射金相显微镜主要适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物体，即要透射光又要反射光照明的的物体,如、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、纺织、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、科研部门作观察分析用。
二、系统简介
本系统是将精锐的光学显微镜技术、的光电转换技术、的计算机图像处理技术地结合在一起而开发研制成的一项高科技产品。可以在计算机显示器上很方便地观察金相图像，从而对金相图谱进行分析，评级等,对图片进行输出、打印。
三、系统组成
电脑型金相显微镜(RHA-MM-1C): 1、金相显微镜 2、适配镜 3、摄像器(CCD) 4、采集卡 5、计算机（选配)
数码相机型金相显微镜(RHA-MM-1D): 1、金相显微镜 2、适配镜 3、数码相机