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光致发光光谱成像测量系统 PMEye-3000 光致发光光谱成像测量系统 PMEye-3000

北京卓立汉光仪器有限公司
会员指数: 企业认证:         

价格:电议

所在地:北京

型号:光致发光光谱成像测量系统 PMEye-3000

更新时间:2018-10-18

浏览次数:2080

公司地址:北京市中关村科技园区通州园金桥产业基地 环科中路16号,联东U谷中试区68号B座

王经理(女士)  

产品简介

主要特点:◆ PLMapping测量◆ 多种激光器可选◆ Mapping扫描速度:180点/秒◆ 空间分辨率:50um◆ 光谱分辨率:0.1nm@1200g/mm◆ Mapping结果以3D方式显示◆ zui大8吋的样品测量◆ 样品定位◆ 样品真空吸附◆ 可

公司简介


北京卓立汉光仪器有限公司是一家集光学、精密机械、电子、计算机技术于一体的高科技企业。卓立汉光自1999年起,通过数年的不断努力,成长为光电仪器知名厂商。目前公司的电控位移台、手动位移台、光学调整架等产品已经形成产品系列化,规格多元化,国内多家科研单位、激光加工设备厂商、光纤设备厂商在使用我们的产品。2000年推出国内第一套量产型三光栅光谱仪后,不断推出了多套荧光、拉曼、光电探测器光谱响应、太阳能电池检测等光谱测量系统,广泛应用在众多高校和科研院所的研究与试验,为国家科技创新贡献了一份力量,产品凭借优良的品质远销欧美、东南亚等海外市场。 2005年10月在同行业中率先通过ISO9001质量管理体系SGS国际认证

卓立汉光主要生产经营:光谱仪光谱测量系统光量测仪器电控精密位移台手动精密位移台光学调整架光学平台光学元件等系列产品。

我们诚心聆听用户的需要与批评,作为不断改进的动力,能让您满意卓立汉光的产品及服务,就是我们最大的成就。因此我们以卓立汉光的光机产品提供 “终身保固” 的承诺,来表达我们对产品的信心。

我们坚持从设计、零件选型、制造、装配、检验、包装、运输、直到售后服务做好全方位质量保证,就是要让您 “付有所值”,以合理的价位得到优质的产品,这是我们对您选择卓立汉光真诚的回报。

卓立汉光始终以满足用户需求为宗旨,分别于上海、 成都、 深圳设立分公司,为用户提供及时周到的销售与技术服务。“研发创新、快速反应、优质服务” 是我们的经营理念, 公司长期重视优质高效、最短时间为客户开发产品及提供技术支持。卓立汉光真诚的希望与国内外同仁携手合作,为推动我国光电产业迅猛发展做出贡献。
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产品说明

 光致发光光谱成像测量系统 PMEye-3000
 
PMEye-3000光致发光光谱成像(PL-Mapping)测量系统是卓立汉光新研制的,用于LED外延片、半导体晶片、太阳能电池材料等,在生产线上的质量控制和实验室中的产品研发检测。该系统对样品的PL谱进行Mapping二维扫描成像,扫描结果以3D方式进行显示,使检测结果更易于分析和比较。该系统的软件窗口界面友好,操作简单,只需简单培训就能使用。

测试原理:
PL(光致发光)是一种辐射复合效应。在一定波长光源的激发下,电子吸收激发光子的能量,向高能级跃迁而处于激发态。激发态是不稳定的状态,会以辐射复合的形式发射光子向低能级跃迁,这种被发射的光称为荧光。荧光光谱代表了半导体材料内部,一定的电子能级跃迁的机制,也反映了材料的性能及其缺陷。PL是一种用于提供半导体材料的电学、光学特性信息的光谱技术,可以研究带隙、发光波长、结晶度和晶体结构以及缺陷信息等等。

光致发光光谱成像测量系统应用领域举例:
LED外延片,太阳能电池材料,半导体晶片,半导体薄膜材料等检测与研究。

主要特点:

◆ PLMapping测量
◆ 多种激光器可选
◆ Mapping扫描速度:180点/秒
◆ 空间分辨率:50um
◆ 光谱分辨率:0.1nm@1200g/mm
◆ Mapping结果以3D方式显示
◆ zui大8吋的样品测量
◆ 样品定位
◆ 样品真空吸附
◆ 可做低温测量
◆ 膜厚测量




一体化设计,操作符合人体工学
PMEye3000 PL Mapping测量系统采用立式一体化设计,关键尺寸根据人体工学理论设计,不管是样品的操作高度和电脑使用高度,都特别适合于人员操作。主机与操作平台高度集成,方便于在实验室和检测车间里摆放。仪器侧面设计有可收放平台,可摆放液晶显示器和鼠标键盘。仪器底部装有滚轮,方便于仪器在不同场地之间的搬动。
模块化设计
PMEye-3000 PL Mapping测量系统采用模块化设计思想,可根据用户的样品特点来选择规格配置,让用户有更多的选择余地。激发光源、样品台、光谱仪、探测器、数据采集设备都实现了模块化设计。


操作简便、全电脑控制
PMEye-3000 PL Mapping测量系统,采用整机设计,用户只需要根据需要放置检测样品,无需进行复杂的光路调整,操作简便;所有控制操作均通过计算机来控制实现。
全新的样品台设计,采用真空吸附方式对样品进行固定,避免了用传统方式固定样品而造成的损坏;可对常规尺寸的LED外延片样品进行定位,提高测量重复精度。


两种测量方式,用途更广泛
系统采用直流和交流两种测量模式,直流模式用于常规检测,交流模式用于微弱荧光检测。

监控激发光源,校正测量结果
一般的PL测量系统只是测量荧光的波长和强度,而没有对激发光源进行监控,而激发光源的不稳定性将会对PL测量结果造成影响。PMEye-3000 PL Mapping测量系统增加对激光强度的监控,并根据监控结果来对PL测量进行校正。这样就可以消除激发光源的不稳定带来的测量误差。

激光器选配灵活
PMEye-3000 PL Mapping测量系统有多种高稳定性的激光器可选,系统多可内置2个激光器和一个外接激光器,标配为1个405nm波长高稳定激光器。用户可以根据测量对象选配不同的激光器,使PL检测更加。
可选配的激光器波长有: 405nm,442nm,532nm、785nm、808nm等,外置选配激光器波长为:325nm。


自动Mapping功能
PMEye-3000 PL Mapping测量系统配置200×200mm的二维电控位移台,zui大可测量8英寸的样品。用户可以根据不同的样品规格来设置扫描区域、扫描步长、扫描速度等,扫描速度可高达每秒180个点,空间分辨率可达50um。扫描结果以3D方式显示,以不同的颜色来表示不同的荧光强度。

软件功能丰富,操作简便
我们具有多年的测量系统操作软件开发经验,,熟悉试验测量需求和用户的操作习惯,从而使开发的这套PMEye-3000操作软件功能强大且操作简便。
MEye-3000操作软件提供单点PL光谱测量及显示,单波长的X-Y Mapping测量,给定光谱范围的X-Y Mapping测量及根据测量数据进行峰值波长、峰值强度、半高宽、给定波长范围的荧光强度计算并以Mapping显示,Mapping结果以3D方式显示。同时具有多种数据处理方式来对所测量的数据进行处理。
 


低温样品室附件
该附件可实现样品在低温状态下的荧光检测。有些样品在不同的温度条件下,将呈现不同的荧光效果,这时就需要对样品
进行低温制冷。


PMEye-3000光致发光光谱成像测量系统主要功能和技术参数
● 激发光源:405nm低噪声半导体激光器,功率:100mW(标配)
● 光谱分辨率:0.1nm(@1200g/mm光栅)
● 光探测器:硅光电探测器,200-1100nm
● 数据采集器:DCS300PA(直流模式,标配);SR830锁相放大器(交流模式,选配)
● 二维移动样品台,行程200mm,重复定位精度 <3μm
● 样品台:可放置6”晶片,真空吸附
● 扫描速度:10,800点/s
● 扫描步长:zui小可达1.25μm
● 空间分辨率:<50μm
● 扫描模式:单点光谱扫描、单波长mapping、峰值波长mapping、峰值强度mapping等



 

本页产品地址:http://www.yi7.com/sell/show-4864304.html
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