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ET150 Kosaka ET150台阶仪

上海昭沅仪器设备有限公司

会员指数：

企业认证：

价格：电议

所在地：上海

型号：ET150

更新时间：2024-04-16

浏览次数：1386

公司地址：上海国权路525号

18964529930 孔昭蘋(先生)

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产品简介

产品特点：二次元表面解析，可测量段差、高分辨率和良好的再现性FPD面板显示，可测定微细表面形状、段差、粗度等低测定力，可测定软质材料

公司简介

上海昭沅仪器设备有限公司专业致力于销售各种高端科研仪器，代理世界一流公司的表面测试及表面处理等产品，公司拥有一批经验丰富的销售人员和技术人员组成，着重为各高校，研究所等单位提供集产品、应用和服务于一体的整体解决方案！

公司重点致力于大专院校、科研院所实验和企业生产所需的各种表面处理设备、表面形貌测试仪器及相关电镜耗材的销售和技术推广。

公司拥有完善的销售网络和雄厚的技术力量，始终致力于提供安全、稳定、高性能的实验仪器设备及专业产品，为您提供快速、满意的安装和售后服务。

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产品说明

Kosaka ET150台阶仪

株式会社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，也是日本一家发表光学杠杆表面粗糙度计，是一家具有悠久历史与技术背景的专业厂商，主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为具代表性单位且在日本测定也占有一席无法被取代的地位。

KOSAKA ET150基于 Windows XP操作系统为多种不同表面提供的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现表面形貌分析应用。ET200 能可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。

ET150配备了各种型号探针，提供了通过程序控制接触力和垂直范围的探头，彩色 CCD原位采集设计，可直接观察到探针工作时的状态，更方便准确的定位测试区域。

产品特点：

二次元表面解析，可测量段差

、高分辨率和良好的再现性

FPD面板显示，可测定微细表面形状、段差、粗度等

低测定力，可测定软质材料

技术参数：

型号		ET150
zui大样品尺寸		φ16048mm
样品台	尺寸	φ160
	倾斜度	±2°（X,Y手动）
	承重	2Kg
检出器	触针力	10μN-500μN（1mg-50mg）
	范围	600μm（0.1nm分辨率）
	驱动	直动式（差动变压器）
	触针	R2μm 顶角60°
X轴	zui大测长	100mm
	直线度	0.02μm/100mm
	速度	0.005-20mm/s
	重复性	±5μm（定位）
Y轴	zui大测长	25mm/手动
Z轴	zui大测长	50mm
放大倍数	垂直	50-2000000
放大倍数	水平	1-10000
监控系统	摄像装置	1/3 inch CCD
	监视装置	视频捕捉板
	移动方法	手动
辅助功能		教学、机动倾斜、倾斜度分析、检出器自动停止功能等
应用		成像、台阶、粗糙度、波纹度和倾斜度
重复性		1σ1nm
电源		AC90-240V 50/60Hz 300VA
外观尺寸		W500D440H630mm 120Kg（不含防震台）