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价格：电议
所在地：北京
型号：JW3308
更新时间：2019-07-02
浏览次数：1919
公司地址：北京通州区永顺翠福园8号楼
夏佳丽(女士) 经理
JW3308手持式回损仪设计用于测量各种光器件、光链路的反射衰耗，控制光纤接头质量，在光纤安装和系统运行的过程中，可测试光回损质量，是应用于现场的优化解决方案。可分别用做光回损测试仪、光功率计、光源，并具有数据存储功能。
技术指标
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光回损测试 |
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测试波长（nm） |
1310/1550 |
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谱宽（nm） |
<5 |
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显示范围（dB） |
6~70 |
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精度（dB） |
±0.5 |
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分辨率（dB） |
0.01 |
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光功率计 |
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波长范围（nm） |
850 ～ 1650 |
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校准波长（nm） |
850、1300、1310 、1490、 1550 、 1625 |
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检测器类型 |
InGaAs |
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显示模式 |
dBm 、dB 、W |
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显示范围（dBm） |
－70 ～＋6 |
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zui大输入功率（dBm） |
＋6 |
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分辨率（dB） |
0.01 |
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精度（dB） |
0.3 |
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光源 |
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波长（nm） |
1310/1550 |
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谱宽（nm） |
<5 |
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zui大输出功率（dBm） |
-3 |
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稳定度（dB，30min） |
± 0.05 |
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调制频率（HZ） |
CW, 270, 1K, 2K |
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