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TP200 三坐标触发式测头

上海量博实业有限公司
会员指数: 企业认证:

价格:电议

所在地:上海

型号:TP200

更新时间:2019-10-22

浏览次数:2146

公司地址:上海市浦东外高桥保税区华京路418号杉中科技创业园

李经理(先生) 销售经理 

产品简介

三坐标触发式测头,测针模块通过高重复性机械定位的磁性接头安装在TP200/TP200B测头本体上,具有快速测针交换功能和测头超程保护功能。

公司简介

上海量博实业有限公司以优质成就价值——Focus On Better Quality为宗旨,专注于计量检测和材料分析设备的研究、引进与推广,公司以深厚的工程技术背景和高效率的资源整合帮助企业在原始设计、开发周期、产品质量、在役检测等各方面显著提升效率和可靠性。

上海量博实业有限公司拥有源自美国、英国、德国等多地区的合作伙伴,凭借种类齐全的产品资源和服务,始终努力为客户解决日新月异的测量分析技术挑战,精选测量方法和选择产品,共同提供适合用户的定制化系统解决方案,有效推动企业实现既定目标。

上海量博实业有限公司的产品和系统方案广泛应用于研究实验室和生产线、质量控制和教育事业、大中型国有企业、汽车行业等,用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能,推动着先进制造技术的精益求精。

上海量博实业有限公司主营检测仪器设备有:

==>>英国泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度仪、轮廓仪、圆度仪、圆柱仪、光学三维形貌测量仪;
==>>
捷克吉尔-斯派克 GearSpect 齿轮啮合仪、齿轮检测中心;

==>>海克斯康三坐标、ROMER关节臂测量机;
==>>
瑞士TRIMOS测长仪、测高仪、测长机;
==>>
德国FraunhoferIZFP无损检测技术研究所 淬火层厚度无损测量系统;
==>>
德国斯派克SPECTRO直读光谱仪、德国布鲁克Bruker火花光谱仪;
==>>
德国菲希尔 Helmut FISCHER X射线镀层测厚仪、便携式涂镀层测厚仪;
==>>
德国EPK手持式涂覆层测厚仪;
==>>
美国FLIR热成像系统、夜视系统、红外热像仪、红外探测器;
==>>
英国施泰力Starrett光学投影仪;
==>>量博LAB
全自动显微硬度测试系统、布洛维硬度机、布氏硬度计、洛氏硬度计、维氏硬度计;
==>>
美国奥林巴斯Olympus超声波测厚仪、超声波探伤仪、涡流探伤仪;
==>>
量博工业视频内窥镜、金相制样设备;

==>>美国雷泰Raynger红外测温仪;

==>>美国OGP多传感影像测量仪;

上海量博实业有限公司为多种精密检测仪器设备提供专业的技术服务及售后服务,本着为用户着想、价格合理、设备质量可靠为宗旨,在机械加工、先进制造、新材料应用、科学研究等前沿领域具有独特优势。欢迎来电咨询:021-50473900。进一步了解产品详细参数信息,推荐查阅网站http://www.labgages.com

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产品说明

英国雷尼绍Renishaw TP200触发式三坐标测头系统

                                        ——具有模块交换功能的小型应变片式测头

TP200触发式三坐标测头系统组件包括:

•    TP200或TP200B测头本体(TP200B为另一款,允许更大振动公差)
•    TP200测针模块 — 选择固定超程测力:SF(标准测力)或LF(低测力)
•    PI 200测头接口
•    SCR200测针交换架
还有一种EO模块(长超程),超程测力与SF相同,但工作范围更大,并在测头Z轴方向提供保护。


TP200三坐标测头系统特性与优点

•    应变片技术具有无可比拟的重复性和的三维轮廓测量
•    零复位误差
•    无各向同性影响
•    六向测量能力
•    测针测量距离达100 mm(GF测针)
•    快速测头模块交换,无需重新标定测尖
•    寿命 >1 000万次触发



TP200 / TP200B测头本体

TP200采用微应变片传感器,实现优异的重复性和的三维轮廓测量,即使配用长测针时也不例外。
传感器技术提供亚微米级的重复性,并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件,确保了在数百万次触发中的可靠操作。
TP200B采用的技术与TP200相同,但允许更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下使用长测针所引发的误触发问题。
请注意:我们不推荐TP200B配用LF模块或曲柄/星形测针。



Renishaw TP200三坐标测头技术规格:
摘要 TP200 TP200B
主要应用 需要的数控坐标测量机。 与TP200一样,但当出现误触发事件时。
传感器方向 六轴:±X、±Y、±Z 六轴:±X、±Y、±Z
单向重复性 (2s µm) 触发水平1:0.40 µm 触发水平1:0.40 µm

触发水平2:0.50 µm 触发水平2:0.50 µm
XY(2D)轮廓形式测量偏差 触发水平1:±0.80 µm 触发水平1:±1 µm

触发水平2:±0.90 µm 触发水平2:±1.2 µm
XYZ (3D) 轮廓测量偏差 触发水平1:±1 µm 触发水平1:±2.50 µm

触发水平2:±1.40 µm 触发水平2:±4 µm
测针交换的重复性 SCR200:±0.50 µm(zui大) SCR200:±0.50 µm(zui大)

手动:±1 µm(zui大) 手动:±1 µm(zui大)
测力(测尖) XY平面(所有模块):0.02 N XY平面(所有模块):0.02 N

Z轴(所有模块):0.07 N Z轴(所有模块):0.07 N
超程测力(位移为0.50 mm时) XY平面(SF/EO模块):0.2 N至0.4 N XY平面(SF/EO模块):0.2 N至0.4 N

XY平面(LF模块):0.1 N至0.15 N XY平面(LF模块):0.1 N至0.15 N

Z轴(SF/EO模块):4.90 N Z轴(SF/EO模块):4.90 N

Z轴(LF模块):1.60 N Z轴(LF模块):1.60 N
重量(测头传感器和模块) 22 g 22 g
长加长杆(如配在PH10系列测座上) 300 mm 300 mm
推荐的zui大测针长度(M2测针系列) SF/EO模块:50 mm钢质至100 mm GF SF/EO模块:50 mm钢质至100 mm GF

LF模块:20 mm钢质至50 mm GF LF模块:20 mm钢质至50 mm GF
安装方式 M8螺纹 M8螺纹
适合的接口 PI200、UCC PI200、UCC
测针模块交换架 自动:SCR200 自动:SCR200

手动:MSR1 手动:MSR1
测针系列 M2 M2

TP200测针模块:

测针模块通过高重复性机械定位的磁性接头安装在TP200/TP200B测头本体上,具有快速测针交换功能和测头超程保护功能。
有三种测针模块可供选择,具有两种不同的超程测力。

模块 SF(标准测力) LF(低测力) EO(长超程)
应用 一般使用。 小直径测球或必须使用zui小测力的场合。 额外超程使坐标测量机在较高的碰触速度下安全停止并回退。
备注 测针长可达100 mm,测球直径 > 1 mm。 测球直径小于1 mm。 与SF的超程测力相同。
测头Z轴的额外超程为8 mm。

雷尼绍SCR200测头交换架:

SCR200可对至多六个TP200测针模块进行自动高速交换。SCR200由的测头接口 — PI200供电,并可确保安全的测针交换。SCR200套件可包含低测力和标准测力组件,每一种套件都包含一个SCR200加上三个测力相同的测针模块。

SCR200交换架规格:

高度:190mm;

宽度:245mm。

SCR200可对最多六个TP200测针模块进行自动高速交换。


测针模块交换:

TP20和TP200测头具有测针模块交换功能,生产效率更高,并且总能选择适合应用的测量系统。

  • 减少循环时间 — 模块交换时间约为6秒,相比之下手工交换需要1分钟(还有重新标定时间)。
  • XY平面碰撞保护装置 — 测针模块在发生碰撞时会分离。
  • 模块可以安全地存放在交换架上。
TP20和TP200测头具有测针模块交换功能,生产效率更高

本页产品地址:http://www.yi7.com/sell/show-5368310.html
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