Mprobe MProbe薄膜测量系统(图)

类型便携式激光测距仪品牌SemiconSoft 型号Mprobe测量范围5nm-800m（m） 测量精度0.1nm或1%（mm） 适

合能阳光是一家硅材料检验仪器及服务提供商，提供全面的硅料、单晶硅片、多晶硅片等成套检验设备及最优解决方案。同时，拉单晶生产所需的辅料也是我公司主营范围之一。

北京合能阳光新能源技术有限公司是一家集科、工、贸为一体的光伏高科技公司。
近年来，随着太阳能行业的飞速发展，导致硅材料极度紧张，硅材料价格也不断上涨，使得客户在选用制造过程用的相关辅料耗材时，极为慎重，对于太阳能耗材的要求越来越高。合能阳光新能源技术有限公司在太阳能耗材、仪表、设备方面积累了多年的经验，为客户提供了高品质的产品和优质的服务。

每一张定单的背后都包含着合能阳光人做事的原则：
------及时发货
------优质包装
------专业服务

我们所提供的不仅是产品，还将为您提供技术支持，我们在这个行业中的技术积累，使我们能够为用户解决问题，这也是我们引以为骄傲的角色。
 

类型	便携式激光测距仪	品牌	SemiconSoft
型号	Mprobe	测量范围	5nm-800μm（m）
测量精度	0.1nm或1%（mm）	适用范围	aSi、TCO、GIGS、CdS、CdTe

产品介绍：

大多数半透明的或者光吸收的薄膜可以被快速的可靠的测量：氧化物、氮化物、光刻胶、聚合物、半导体材料（Si、aSi、PolySi）、复合硅材料（AlGaAs、InGaAs、CdTe、CIGS）、硬膜（Paralene、PMMA、Polyamides）、金属薄膜等等。

技术指标：

■ 厚度范围：5nm-800μm

■ 波长范围：200nm-5000nm

应用范围：

■ 太阳能电池薄膜应用：aSi、TCO、GIGS、CdS、CdTe-全太阳能电池堆叠测量

■ LCD、FPD应用：ITO、Cell Gaps、Polyamides

■ 光盘：介质滤光片、硬涂层、反射涂层

■ 半导体：Oxides、Nitrides、OLED stack

■ 200nm氧化层厚度的100个测量值

■ 实时测量及分析：多层的，不同薄厚的，和非均匀涂层

■ 可扩展材料库（超过500中材料）：Cauchy、Tauc-Lorentz、Cody-Lorentz、EMA等等

产品特点：

■ 使用灵活：桌面或固定式，在线研发等

■ 测量：厚度、光学常数、表面粗糙度

■ 生产准备：后台刻度校准、操作员/工程师界面、■ 灵活的系统配置。连接层和材料、多种样品检测、动态测量和批量处理

■ CdS/GIGS堆叠测量结果匹配VS数据产生

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