Langer XF1 近场探头组（30MHz-6GHz）

XF 1近场探头组包含4个无源磁场探头和1无源电场探头，所有探头的频率范围为30MHz到6GHz，用于在研发阶段测量磁场和电场。

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 XF 1近场探头组包含4个无源磁场探头和1无源电场探头，所有探头的频率范围为30MHz到6GHz，用于在研发阶段测量磁场和电场。由于在探头内部配置了阻抗匹配器，该探头组与其他探头（如RF型探头）相比，在低频区较不敏感。 使用XF 1系列的探头，可以逐步辨识电子模块中的干扰磁场源。例如，先用XF-R 400-1型探头检测电子模块总体发射出的干扰场，然后再用高分辨率探头更准确地识别干扰源。电场探头用于检测电子模块表面的干扰电场。 通过相应地操作近场探头，能够测量出电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减。磁场探头采用电屏蔽设计。这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部安装有终端电阻。
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