YL-ScinAF－05B 闪烁余辉测量系统

YL-ScinAF－05B 是本公司研制的一款高余辉测量系统。本仪器采用 X 光源为激发源（脉冲与连续两种模式），进口高增益、低噪声光电倍增管为光电探测器，采用高速 ADC 和 FPGA、DSP 技术设计实现高速准确的数据采集

广州誉立电子科技有限公司

 余辉测量时间范围：5 微秒～1000 毫秒；

l 余辉测量动态范围：1～104；

l 波长测量范围：200－900nm；

l 脉冲 X 源下降沿短于 50 纳秒；连续 X 源下降沿小于 3 毫秒；

l 仪器标配固体品品台和粉末、液体样品台，可测量包括晶体、陶瓷、粉末以及液体闪 烁材料；

l 仪器采用 PC 控制、实现整个测试系统的高压加载、校准、激发、数据采集、存储等 功能的实时与自动化控制。

l 提供配套的热释光分析软件，内置热释光一级、二级、一般级动力学模型，并可进一 步对发光曲线进行拟合、解谱分析等

本页产品地址：http://www.yi7.com/sell/show-6056061.html