Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL BK 研究级透反射偏光显微镜

Leitz ORTHOLUX-ⅡPOL BK实验室研究级透反射偏光显微镜

仪器的用途：

ORTHOLUX-Ⅱ POL BK透反射偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校常用的专业实验仪器。

仪器特点：

透反射偏光显微镜ORTHOLUX-Ⅱ POL BK，随着光学技术的不断进步，作为光学仪器的偏光显微镜，其应用范围也越来越广阔，许多行业，如化工的化学纤维，半导体工业以及药品检验等等，也广泛地使用偏光显微镜。ORTHOLUX-Ⅱ POL BK透反射偏光显微镜就是非常适用的产品，可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子等附件，是一组具有较完备功能和良好品质的产品。本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。

德国原装进口偏光显微镜费氏台

技术参数

费氏台即费德洛夫旋转台是研究造岩矿物和构造岩石学的一种仪器

主体：五轴偏转

配套：

上半球：nD1.554、nD1.516、nD1.649各一个；

下半球：nD1.554、nD1.516、nD1.649各一个；

长焦距物镜：5×（选购），10×（选购），20×（标配），32×（选购），50×（标配）

长焦距聚光镜：NA0.35，NA0.60各一个

角度尺一把

石英片一块
备注：

  费多洛夫一生主要成就是发明了“旋转台”。1867年偏光显微镜技术运用到岩石学研究中，使岩石矿物鉴定工作上了一个新台阶。但在偏光显微镜下鉴定岩石薄片中的矿物时，人们碰到薄片中矿物的非定向位置与鉴定中要求定向的矿物切面之间的矛盾。在偏光显微镜的条件下，岩石薄片平面只能在载物台平面内转动。因此，要鉴定矿物的光学常数只能*从许多颗粒中选择定向颗粒的方法。为了选择完全准确的定向颗粒，常常耗费很多时间，或者由于薄片中根本不存在某种定向颗粒而宣告失败。在这种情势下，促使人们尝试改变偏光显微镜的条件。

　　费多洛夫创了一种旋转台，使矿物的一个任意切面能在三度空间中围绕几个轴而旋转，以获得所要求的定向切面，从而解决了偏光显微镜下鉴定矿物时不易解决的矛盾。他于1889年提出了旋转台法的基本原理。当时他发明的是双圈反射测角仪，方便了晶体测角的工作。1893年他公布了这个方法，并称之为“经纬仪法”。这是一种原始的二轴台（一个直立轴和一个东西方向水平轴），在二轴台上已经可以找到光轴、光率体主轴和某些结晶方向，以及区别均质体、一轴晶和二轴晶，但是要借助于比较复杂的操作和投影作图，因此，费多洛夫又将它改进为三轴台、四轴台，主要是增加了一个南北方向的水平轴，因而可直接测光率体主轴和光轴，大大简化了操作步骤。原偏光显微镜测定的只能称为常数的近似值，旋转台测定的才能称为光学常数。

　　旋转台能研究复杂的双晶律，并利用双晶来鉴定矿物，在其上附加一些装置还可以地测定矿物主要的光学常数--折光率，所以被称为“台”，现仍纪念而命名为“费多洛夫台”（简称“费氏台”）或“费多洛夫旋转台”（简称“旋转台”）。旋转台足以鉴定出某些固溶体系列中的矿物名称，因而对于岩石成因理论研究及岩组学的建立具有重大的、决定性的意义。