您所在的位置: 仪器交易网 » 供应 » 通用分析仪器 » 其他通用分析仪器 » ZEM-5热电性能分析系统

ZEM-5热电性能分析系统

江苏泰州市先科仪器厂

会员指数：

企业认证：

价格：电议

所在地：江苏泰州市

型号：

更新时间：2023-11-27

浏览次数：1297

公司地址：江苏

13921728650 韩一一(女士)

点击查看联系电话在线询价

产品简介

· 适用于研究开发各种热电材料和薄膜材料，提高测量精度· 温度检测采用C型热电偶，适合测量Si系列热电材料(SiGe, MgSi等) *HT型

公司简介

姜堰市先科仪器厂坐落在举世闻名的江阴长江大桥北岸的姜堰市城南工业园，区位优势明显，交通便利。本厂生产设备先进，计量检测手段完善，技术力量雄厚。产品严格按照国家标准和交通部标准设计生产，并可根据您的需要为您设计制造您所满意的专用设备。　　本厂所生产的土工仪器系列设备适用于各类岩矿石、建筑混凝土以及陶瓷、耐火砖等非金属脆、硬材料进行钻取、切割、磨平、粉碎取样。本厂在生产岩土制样设备中积累了丰富的经验，可为您精心设计制造出由小到大、由简易到自动化程度较高的系列取芯机、切石机、磨平机、粉碎机，自由膨胀率仪及耐崩解试验仪等专用设备。　　随着新技术，新材料的不断出现，欢迎各界有识之士对我们的产品提出宝..

展开

产品说明

ZEM-5热电性能分析系统

技术特点：

· 适用于研究开发各种热电材料和薄膜材料，提高测量精度

· 温度检测采用C型热电偶，适合测量Si系列热电材料(SiGe, MgSi等) *HT型

· 真正可测基板上的纳米级薄膜（TF型）

· zui大可测10MΩ高电阻材料

· 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表

· 基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2)

	ZEM-5HT	ZEM-5HR	ZEM-5LT	ZEM-5TF
特点	高温型	高电阻型 zui大电阻：10MΩ	低中温型	薄膜型可测在基板上形成的热电薄膜
温度范围	RT-1200℃	RT-800℃	-150℃-200℃	RT-500℃
样品尺寸	直径或正方形：2 to 4 mm²；长度3 ～ 15mm			成膜基板：宽2-4mm，厚0.4-12mm，长20mm 薄膜厚度：≥nm量级薄膜样品与基板要求缘
控温精度	±0.5K
测量精度	塞贝克系数：＜±７％；电阻系数：＜±７％
测量原理	塞贝克系数：静态直流电；电阻系数：四端法
测量范围	塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K；电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm/10MΩ
分辨率	塞贝克系数：10nV/K；电阻系数：10nOhm
气氛	减压Ｈｅ