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价格:电议
所在地:陕西 西安市
型号:美国FEI
更新时间:2019-10-11
浏览次数:1144
公司地址:陕西省西安市高新区高新路88号尚品国际C北座28层2808号
方红星(先生)
技术说明
1.小化样品制备的数量,低真空和 ESEM 功能可实现缘及/或含水样品的无荷电成像和分析
2.通过 Quanta 的“经由透镜”压差真空技术,可在高真空和低真空条件下对导电和缘样品进行 EDS 和 EBSD 分析,提高分析能力。 稳定的高射束电流(高达 2 μA)可实现快速准确的分析
3.使用原位样品台在 - 165 °C - 1500 °C 环境温度条件下执行各种自然状态样品的动态原位分析
4.使用可选的射束减速模式完成表面成像,以获取导电样品的表面和成分信息
5.易用和直观性令初学者也能进行操作。
应用说明
NanoCharacterization(纳米级表征)金属及合金、氧化/腐蚀、断口、焊接点、抛光片、磁性和超导材料、陶瓷、复合材料、塑料薄膜/涂层地质断面、矿物软材料:聚合物、药品、过滤器、凝胶体、薄纱织品、种植材料微粒、多孔材料、纤维。