LCL-13薄膜测厚仪

LCL-13薄膜测厚仪根据多次反射光谱相干原理，本仪器可提供非接触测量薄膜厚度，折射率，吸收系数等；采用新软件版本，具有纳米级测量和方便使用等优点；测量方便度和准确度远好于常用光学椭偏仪。是薄膜研究，光学镀膜，和半导体生产不可缺少的测量研究仪器。

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LCL-13薄膜测厚仪产品介绍

LCL-13薄膜测厚仪根据多次反射光谱相干原理，本仪器可提供非接触测量薄膜厚度，折射率，吸收系数等；采用新软件版本，具有纳米级测量和方便使用等优点；测量方便度和准确度远好于常用光学椭偏仪。是薄膜研究，光学镀膜，和半导体生产不可缺少的测量研究仪器。

LCL-13薄膜测厚仪主要实验内容

LCL-13薄膜测厚仪主要配置参数

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