BMDZ-4型PVDF薄膜电阻综合测试测试仪

BMDZ-4型PVDF薄膜电阻测试仪是运用环形三电极法原理测量固体片状、薄膜状或液体类导静电材料、绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的多用途综合测量装置，也可作为超高阻计或微电流测试仪使用。不仅可测试薄膜体电阻，而且可以测试薄膜的表面电阻，是压电材料薄膜测试参数的重要设备,是国内高校研究PVDF薄膜材料的重要设备，也

北京精科智创科技发展有限公司是一家主要是从事精密仪器设备，我们同中国科学院，北京科技大学，清华大学，上海交通大学，北京航空航天大学等建立了合作和研究中心，目前我们主要在安全控制设备，计量检测设备，科学材料研究设备，3D打印及空间技术的研发和销售，我们将同国内的科研机构和高等院校进行更加广泛的合作，服务于国内和国外广大客户，我们将提供优质产品，优质服务，共同开拓进取。

我们为你提供材料表征测量的一系列产品：

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一表征：压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪

2、ZJ-4型d33测量仪

3、ZJ-5型积层压电测试仪

4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪

5、ZJ-7型高温压电测试仪

★压电极化装置

1、PZT-JH10/4压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片）

2、PZT-JH10/8压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

3、PZT-JH20/8高压电极化装置（20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高压真空，空气极化装置（20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样）

★ 压电制样装置

1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统

1、ZT-4C型综合铁电测量系统

2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪

3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统

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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪

1、BKTEM-Dx热电性能分析系统

2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统

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第四表征 介电材料测试系统

1、 常温介电测量系统，常温介电材料测试仪

2、 高温介电测量系统，高温介电材料测试装置

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第四表征磁性材料测试系统

关键词：PVDF，薄膜，电阻，表面电阻，体电阻

BMDZ-4型PVDF薄膜电阻测试仪是运用环形三电极法原理测量固体片状、薄膜状或液体类导静电材料、绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的多用途综合测量装置，也可作为超高阻计或微电流测试仪使用。不仅可测试薄膜体电阻，而且可以测试薄膜的表面电阻，是压电材料薄膜测试参数的重要设备,是国内高校研究PVDF薄膜材料的重要设备，也是材料学院的重要研究设备之一。

一、符合国家标准:

GB/T 3389-2008 压电陶瓷材料性能测试方法

 GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》。二、 产品用途：

1、PVDF薄膜材料表面电阻及体电阻

2、压电陶瓷材料表面电阻及体电阻

3、PVDF薄膜材料表面的微电流测试

                        

三、主要特点：

1、数字化操作，参数自由设定、功能转换全部采用数字化键盘输出，操作简便、性能稳定。

2、自动化测试过程，电压、电流量程转换，全部数字化转换。

3、多窗口显示体积电阻率、表面电阻测试结果，电压、测试电流测试条件，以及设定修正系数，内容全面。

4、测试安全保护，测试高压独立操作开关，测试电流过流保护。

5、便于功能拓展，选配薄膜测试探头，可以测试高阻薄膜，选配夹具可以当高阻计和微电流表使用。也可测试高阻液态电阻率。

三、测量范围

电阻范围：  1.0×10^2～ 2.0×10^14 Ω,     

分辨率0.01×10^3～ 0.01×10^14 Ω

电阻率范围：  Kv×( 1.0×10^2～ 2.0×10^14) Ω-cm,  

分辨率0.01×10^3～ 0.01×10^14 Ω-m， K=1～1000，修正系数）

精度：±0.01

选配：可以配合ZJ-3/6型PVDF压电测试仪进行薄膜D33系数测试

工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤20W

外形尺寸： W×H×L=40cm×15cm×35cm

重量：≤4kg

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