4200A-SCS 吉时利半导体参数分析仪

吉时利半导体参数分析仪4200A-SCS是一种可以量身定制、全面集成的参数分析仪，可以同步查看电流电压,电容电压和超快脉冲特性。作为性能高的参数分析仪，加快了半导体，材料，工艺开发的速度。

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吉时利半导体参数分析仪

品牌：keithley/吉时利
 型号：4200A
 种类：半导体参数分析仪
 产地：美国
 详情介绍：
     使用4200A-SCS加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。业内性能参数分析仪，提供同步电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）和超快脉冲I-V测量。
   4200A-SCS是一种可以量身定制、全面集成的参数分析仪，可以同步查看电流电压,电容电压和超快脉冲特性。
作为性能高的参数分析仪，加快了半导体，材料，工艺开发的速度。
    ClariusTM基于GUI的软件提供了清楚的，不折不扣的测量和分析仪功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时可以投入使用的应用测试
Clarius Software可以更深入的挖掘研究过程，快速而满怀信心。
    可以根据不同客户需求灵活配置，不管是现在还是在未来，都可以随时对系统进行升级。通往发现之旅现在变得异常简便。



 吉时利半导体参数分析仪
  主要性能指标：

 I-V源测量单元（SMU）
210V/100mA或者210V/1A模块
100fA测量分辨率
选配钱端放大器提供了10aA测量分辨率
100mHZ-10HZ超低频率电容测试
四象限操作
2线或4线连接
C-V多频率电容单元(CVU)
AC阻抗测量（C-V,C-F,C-T）
1kHZ-10mHZ频率范围
30V（60V差分）内置DC偏置源，可以扩展到210V（420差分）
选配CVIV多通道开关，在I-V测量和C-V测量之间简便切换脉冲式I-V超快速脉冲测量单元(PMU)
两个独立的或者同步的高速脉冲I-V源和测量通道
200MSa/s,5ns采样率
40V（80V p-p）,800MA
瞬态波形捕获模式
任意波形发生器Segment ARB@模式，支持多电平脉冲波形，10Ns可编程分辨率
高压脉冲发生器单元（PGU）
吉时利半导体参数分析仪



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