EDX2000A 天瑞芯片镀层厚度膜厚仪

天瑞芯片镀层厚度膜厚仪是一款上照式膜厚测试仪。相比于传统的镀层测厚设备，不仅在常规的传统电镀上表现geng加显现，geng能hen好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴丫轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本49699.087万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司、四川天瑞环境科技有限公司、河南省天瑞环境科技有限公司、厦门质谱仪器仪表有限公司、苏州天蓝祥瑞技术服务有限公司九家全资子公司和江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全资源化有限公司、雅安天瑞水务有限公司、安岳天瑞水务有限公司五家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司主要从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。

天瑞芯片镀层厚度膜厚仪是由江苏天瑞仪器股份有限公司研发、生产并销售天瑞芯片镀层厚度膜厚仪。
天瑞芯片镀层厚度膜厚仪采用上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。Quanxin的光路，geng短的光程，相较传统光路，信号采集效率提 升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，不仅可适应微小产品，同时也兼顾了台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程多点测试，能自动完成对多个样品多个点的测试，dada提高测样效率。自带数据校对系统，让您永远不再为数据突然变化而担心。

天瑞芯片镀层厚度膜厚仪的特点：
kuaisu：一般测量一个样品只需要5S～40S，样品可不处理或进行简单处理； 
无损：物理测量，不改变样品性质； 
直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析sudu快； 
环保：检测过程中不产生任何废气、废水； 
简易：对仪器操作人员技术要求较低，仪器操作简单,且维护方便；
可靠性gao：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析jingdu、重复性与稳定性很高。
天瑞芯片镀层厚度膜厚仪chaogao硬件配置
采用jinkougao分辨率的FAST SDD探测器，高达140ev分辨率，能准确地解析每个元素的特征信号，针对复杂底材以及多层复杂镀层，youshijuda。Jinkou的gao功率da高压单元搭配jinkou大功率X光管，能hen好的保障信号输出与激发的稳定性，同时，故障率也jida的降低。Gao准确度自动化的X轴，Y轴以及Z轴的三维联动，更准确kuaisu地完成对微小异型（如弧形、拱形、螺纹、球面等）测试点的定位。

检测实例
天瑞芯片镀层厚度膜厚仪可针对单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等进行kuaisujingzhun测试。

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