FT-331 四探针电阻率测试仪

FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

ROOKO[瑞柯微]仪器经营--专注于粉体和材料测试与分析仪器的产销及服务；产品服务于科研、院校、实验室及企业研发部门；“质量为本、服务先行”之经营理念；致力于创新为客户提供解决方案；坚持差异化经营，求同存异；以创新，改变认知，提升品质为使命；采用新技术、新方法、提升客户价值为全员谋福祉为愿景；坚持修己、求进、创新为价值观；与广大用户共进步，共发展.目前经营如下系列产品：1.粉体、颗粒测试仪器系列；2.材料电性能测试仪系列；3.流变仪和粘度计系列；4.热分析仪器系列.

1.粉体、颗粒测试仪器系列：粉末流动性测试仪,堆密度仪,粉体综合特性测试仪,粉体屈服强度测试仪.粉体流变仪,粉末电阻率测试仪,休止角测定仪,安息角测定仪,松装密度测定仪,振实密度仪,斯柯特容量计,霍尔流速计,表观密度测定仪,颗粒强度测定仪.

2.导体/半导体/绝缘材料电性能测试系列：料表面/体积电阻率测试仪、四探针方阻/电阻率测试仪、高温电阻率测试系统、电压降测试仪.3.流变仪和粘度计系列；4.热分析仪器系列.

FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪

 描述：采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
二.参照标准：

硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
三.适用范围：

适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表

用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

四.型号及参数

规格型号 FT-331

1.方块电阻范围 10^-5～2×10^5Ω/□

2.电阻率范围 10^-6～2×10^6Ω-cm

测试电流范围 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

4.电流精度 ±0.1%

5.电阻精度 ≤0.3%

6.显示读数 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式 普通单电测量

8.工作电源 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W

9.误差 ≤4%（标准样片结果）

10.选购功能 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.

11.测试探头 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针

12.标准电阻（选购） 规格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

 

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