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WGL光电轮廓仪

  • 发布日期:2010-08-05
  • 有效期至:长期有效
  • 浏览次数773
  • 详细内容

器由倒置式改为正置式,更符合人们的操作习惯;
应用CMOS代替CCD,省去图象卡并提高了质量;
用低压电源代替高压电源,节省了仪器成本;
用国产的代替德国进口压电陶瓷,解决了关键部件的进口难题;
增加了自动步距和亮度校正程序,同时增加了局部放大三维立体图功能;

 表面微观不平深度测量范围:130?1nm
 测量的重复性:sRa≤0.5nm
 测量精度:8nm
 物镜倍率:40X
 数值孔径:0.65
 仪器视场  目视:f0.25mm
                    摄象:0.13X0.13mm
仪器放大倍数  目视:500X
                            摄象(计算机屏幕观察):2500X
  接收器测量列阵:1000X1000
  象素尺寸:5.2X5.2nm

 

 
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