海尔帕 HPS2663四探针测试仪：HPS2663四探针测试仪，可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；

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联系人基本资料

联系人：杜全军

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E-mail：dqj@lemaiyi.com

海尔帕 HPS2663四探针测试仪

HPS2663四探针测试仪，可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电片、氢燃料电池电片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。

 

 

海尔帕 HPS2663四探针测试仪   性能特征

 

液晶人性化操作界面

多种测量参数可选

测量数据自动保持功能

超快测量并显示读数

量程有自动和手动双模式

档号显示及档计数功能

兼容多种材料测量

专业的通讯接口可以与PC进行数据通讯及对仪器的远程控制

 

 

海尔帕 HPS2663四探针测试仪   产品应用

 

硅类半导体材料

柔性材料导电薄膜、金属镀层、ITO膜或纳米涂层

金属化薄膜电容器、导电塑料

 

 

海尔帕 HPS2663四探针测试仪   技术规格

产品型号	HPS2663
性能指标
显示器	高清LCD液晶显示
显示位数	5位
测量范围和精度
电阻率	10µΩ?1?1cm －20MΩ?1?1cm
方块电阻	10µΩ/□ －20MΩ/□
直流电阻	10µΩ－20MΩ
精度	电阻率、方阻：4%；电阻：0.1%；
测量功能
量程方式	自动，手动
测量速度	快速: 6 次/秒，中速: 2次/秒，慢速: 2 次/秒
触发方式	内部，手动，外部
校正功能	专用治具短路清零
测量端	四线制（2个检测端和2个驱动端)，5端
分选接口
分选功能	内建比较器：合格、上超和下超
讯响	OFF,IN,HI,LO(音量可调）
接口配置	RS-232C接口/HANDLER/
一般规格
操作环境	0°C －40°C ，≤90%RH
电源要求	198V －242V(AC），47.5Hz －63Hz
功耗	≤30 VA
尺寸	335 mm(宽) x 120 mm(高) x 320 mm(深)
重量	2kg

 

海尔帕 HPS2663四探针测试仪   配件信息

标准配件

• AC电源线

• 用户手册

• 测试报告

• 保修卡和合格证

• HPS58002四探针测试探头

 

选配配件

• 通讯线缆

• HPS58006四探针测试探头

• 专用配套测试台

• 软件光盘（上位机数据采集软件）

• USB转RS232通用串口线（1.8米）

 

 

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